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实验一:逻辑门电路的逻辑功能及测试.doc

实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试 一.实验目的 1.掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。 2.熟悉各种门电路参数的测试方法。 3. 熟悉集成电路的引脚排列,如何在实验箱上接线,接线时应注意什么。 二、实验仪器及材料 a)数电实验箱、万用表。 b)TTL器件: 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片 74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片 74ls04 反向器材 1片 三.预习要求和思考题: 1.预习要求: 1)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 2)常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。 3)三态门的功能特点。 4)熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 2.思考题 1)TTL门电路和CMOS门电路有什么区别? 2)用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么? 四.实验原理 1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。 2.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间 存在一定的逻辑关系。 TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,其管脚识别方法:将TTL集成门电路正面(印有集成门电路型号标记)正对自己,有缺口或有圆点的一端置向左方,左下方第一管脚即为管脚“1”,按逆时针方向数,依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知,本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图1—1 3.图1—2分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。 4.图1-3是为了理解TTL逻辑门电路多余端的处理方法。 5.图1-4为三态门逻辑功能测试。 五.实验内容及步骤 选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及GND不能连接错。线连接好后经检查无误方可通电实验。 TTL门电路及CMOS门电路的功能测试。 将CMOS或门CC4071,TTL与非门74LS00、和或非门74LS02分别按图1-2连线:输入端A、B接逻辑开关,输入端Y接发光二极管,改变输入状态的高低电平,观察二极管的亮灭,并将输出状态填入表1-1中: 表1-1 输 入 A B 输 出Y1 CD4071 输 出Y2 74LS00 输 出Y3 74LS02 0 0 0 1 1 0 1 1 逻辑表达式 逻辑功能 2.TTL门电路多余输入端的处理方法: 将74LS00和74LS02按图示1-3连线后,A输入端分别接地、高电平、悬空、与B端并接,观察当B端输入信号分别为高、低电平时,相应输出端的状态,并填表1-2. 3.TTL三态门逻辑功能测试: 将TTL三态门74ls125和反相器按图1-4连线,输入端A、B、G分别接逻辑开关,输出端接发光二极管,改变控制端G和输入信号A、B的高低电平,观察输出状态,并填表1-3. 表1-2 输 入 输 出 A B 74LS00Y1 74LS02Y2 接地 0 1 高电平 0 1 悬空 0 1 A、B并接 0 1 表1-3 G A B Y 表达式 0 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 五.实验报告 1. 按各步骤要求填表。 2. 通过实验分析,说明TTL门电路和CMOS门电路有什么特点,总结他们多多余端的处理方法。 3. 说明三态门有什么特点。

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