PXI自动化测试系统如何帮助您提高测试效率.pptVIP

2004年中国PXI技术和应用论坛 议程 构建自动化测试系统时面临的多种需求 NI基于PXI的自动化测试系统架构 同时满足您的多种需求 自动化测试案例 基于PXI的DMM + Switch顺序测试系统 测试管理软件TestStand构建并行测试系统 成功案例分析 工业趋势 自动化测试系统所面临的多种需求 高吞吐量 低系统成本 缩短开发时间 测量配置 数据转换 数据处理 可扩展性 灵活性 可靠性 坚固性 校准 NI基于PXI的自动化测试系统架构－帮助您同时满足多种需求 PXI总线保证了系统的高吞吐量和可扩展性 基于PC的平台 132 MB/s 工业标准规范 PXI Express带宽高达 6 GB/s 的带宽 模块化的架构提供灵活的扩展功能 模块化的平台 软硬件易于集成 无需修改软件 可忽略的系统升级所需时间- 相比与其它平台 工业标准的PXI总线和实时操作系统保证了系统的可靠性 模块化的架构帮助节省系统成本 超过1200种基于PXI的模块化I/O 灵活性－根据需求配置相应的模块 高性能的测试模块提高了测试速度，降低坏品率，从根本上节省了系统成本 专业的软件架构缩短了开发时间 自动化测试案例1：基于DMM+Switch的顺序测试系统 通过使用Switch对多个UUT进行顺序测试，提高测试速度 增加通道数 提高测量的灵活性 简化测试夹具 降低成本 为什么使用基于PXI的Switch? NI基于PXI的Switch的顺序测试方案 NI提供了多种的Switch和高性能测试模块的选择 通过DMM和Switch的硬件握手减少延迟 使用NI Switch Executive缩短软件编程的时间 NI提供了多种的Switch和测试模块的选择 DMM和Switch的软件握手和硬件握手 NI的所有Switch硬件都有足够的内存可供下载扫描列表 NI Switch Executive – 自动化测试平台 NI的开关模块和自动化测试平台的独特优势 有效地开发大型ATE开关切换系统 将开关切换集成到测试软件架构中 简单快速开发 Switch系统 可重用的 测试代码模块 简单的 Switch系统 维护 更好的Switch 系统的灵活性 NI Switch Executive – 快速开发 NI Switch Executive – 快速开发 矩阵开关的设置非常容易  集成所有的NI开关模块 自动化测试案例2：使用TestStand构建并行测试系统 为什么要并行测试? 防止测试和流水生产线中的瓶颈 大多现有的测试系统不能跟上吞吐量的需要 高产量测试的环境 维持质量标准 避免 为了提高测试速度而减少某些关键的测试 增加设备的利用率 更低的测试成本 提高测试速度的几种方法 复制整个测试系统 缺点: 昂贵, 体积大, 需要更多的测试人员 分散测试在各个子系统中 缺点: 体积大, 额外的处理, 需要更多的测试人员 开发一个资源共享的并行测试系统 并行模式下同时测试多个功能和UUT 根据性能的要求共享或复制硬件 优点: 优化设备利用率，减小体积，只需一个测试人员 缺点: 需要额外的软件开发 不添加硬件，使用资源共享的方法提高测试速度 使用NI的TestStand开发并行测试 最新的并行测试架构 多线程执行引擎 异步和批量处理 内置的资源分配、同步和自动调度 多线程，安全的操作员界面 无需很高的编程知识 自动协调并行测试，提高测试速度 自动协调并行测试的例子 演示2：自动协调并行测试 比较测试吞吐量和设备的利用率 顺序(Sequential) 并行(Parallel) 自动协调(Autoschedule) 使用NI的测试平台，Flextronics大大节约成本 挑战: 使用标准的、可升级的测试平台应用于32个国家、50多万种产品的日常测试 产品 TestStand, PXI, 模块化仪器 来自Flextronics（中国）的用户感言 “PXI平台真正革新了我们的自动化测试。通过PXI开放的架构，灵活的配置，低成本以及广泛的可供选择的模块化仪器，使得测试开发工程师更快更高效的开发测试应用。我们上一个项目因为使用了PXI，帮助节省了至少20%的设备成本，并且仅在3个星期内就完成了对PXI系统的开发。” - Jay Mariano, Test Development Engineer, Flextronics Test China 基于PXI的汽车电子测试平台 总结 NI基于PXI的自动化测试系统架构 高吞吐量 最佳的可靠性 低系统成本 可扩展性和灵活性 …… 自动化测试案例：如何帮助您提高测试效率，降低测试成本 基于PXI的DMM + Switch顺序测试架构 使用测试管理软件TestStand自动协调多个UU