X射线分析技术进展.pptVIP

18ｋW　旋转阳极X射线发生器 　　 →缩短测试时间 　　→衍射曲线更清晰 　　→可以检测出微小峰 高频高压发生器 12kW→18kW(60kv, 300mA) 高电流(40kV, 450mA) 自转靶 微焦点(0.2×2, 0.3×3mm) 复合靶(Cu, Mo) Schneider Rigaku的产品ultraX 18 30kW, 60kW, 90kW转靶X射线发生器 1000mA螺旋钨丝 做连续谱源，用于X射线吸收谱及能量色散X射线衍射 平晶单色器 双平晶光路 四晶高分辨光路 使晶体表面与反射晶面族斜交，则可提高反射强度或增加光束面积。 有意识地让第二块晶体微微偏离衍射角，可大大降低高次谐波 弯晶聚焦单色器 弯晶单色器不仅有单色作用，还有聚焦作用，可提高反射强度。焦点可以做得相当小，因此弯晶单色器也常用作聚焦元件。 弯曲方式：单弯曲，双弯曲圆筒面型，圆锥面型，对数曲线弯曲 聚焦种类(单弯曲、圆筒面型)： 双弯曲单色器可在相互垂直的两个方向上同时聚焦，有大的截取角 径向（Sagittal）聚焦单色器 第一块是平晶， 第二块为单弯曲的圆锥面型晶体。 反射镜 改变X射线的前进方向 抛物面不等厚多层膜 单Gutman Optics可达0.3arcmin(0.3°) 双Gutman Optics焦点可小于100?m 多层膜的构造 是一种在基板上重复涂上两种不同材料制成的一维晶体。 一种是高原子序数的重金属,另一种是低原子序数的非金属。 这两个层的厚度之和dH＋dL构成这多层膜的重复周期d。 dH和dL的大小和它们间的比值与多层膜的性质有关。 准直镜 这是一种将发散光变成平行光的装置。 抛物线准直镜，抛物面不等厚多层膜。 （上）线光源 （下）点光源 聚焦镜 使入射光束聚集到一个小的范围内， 椭圆聚焦镜 Kirkpatrick-Baez(K-B)系统 两块单弯曲聚焦镜前后正交放置 边靠边的Kikpatrick-Baez系统 混合的光学模块 一块抛物面镜和一块Ge（220）双平晶组合使用 (Panalytical)，发散度0.007° 两块椭面镜的联合使用 与双平面镜组合 K-B排列 毛细管元件 利用X射线在毛细管内壁上的全反射来起聚焦或准直作用 等径毛细管 弯曲毛细管 不等径毛细管 单管和多管准直(聚焦) （a）单锥形 （b）双锥形 索拉光阑(狭缝) 作用：提高垂直平行度 重要指标：发散角和透过率 一般：2°~5°, 50% 约翰型 约翰逊型 可以组合使用 平行光反射镜加双晶单色器（Ge） 发射度0.01° 多层膜 Kirkpatric-Baez聚焦 Osmic Confocal-Max-Flux (CMF)系列 锥状毛细管束的聚焦和准直作用 波带片简述 波带片分为非阻挡波带片和中心阻挡波带片，如图。 光路系统中的光学元件 狭缝：固定?可变 探测器 闪烁计数器 正比计数器 电离室 半导体计数器 影像板（Image Plate IP） 电荷耦合装置 Charge Coupled Device CCD） 半导体计数器 能量分辨率较高, 不用单色器可得??1 扫描型，能量色散型 位置灵敏探测器（PSPC） 影像板（IP） * * X射线衍射分析技术进展 上海交通大学材料科学与工程学院 姜传海 物相分析 点阵常数 织构 高、低温 小角散射 线形分析 径向分布函数 应力测定 电子密度函数 晶体结构精修 原子占位分析 微区分析 常见分析方法 分析结果的可靠性关键是仪器设备 X射线源：实验室光源，同步辐射源， 等离子体X射线源 光学元件：狭缝，单色器，反射镜， 聚焦元件 探测器：位置灵敏探测器(PSPC)， 固体探测器(SD)，影像板(IP)， 电荷偶合装置(CCD) 仪器设备的主要部件 一、实验室Ｘ射线源 1、功率：转靶Ｘ射线发生器 常用：18kW（12kW）， 60kV 300mA 最高：90kW, 150kW,（