Smart-p重映射粒度可变的PCRAM磨损错误恢复机制.pdfVIP

V01．7 No．4 Apr．2012 中国科技论文 CHINASClENCEPAPER 第7卷 第4期 2012年4月 Smart—P：重映射粒度可变的PCRAM 磨损错误恢复机制 朱龙云，赵 鹏 ，廖学良，王踽屏 (1．可视媒体智能处理与内容安全北京市高等学校工程研究中心，北京 100084； 2．清华大学计算机科学与技术系，北京 100084) 摘 要：新兴的非易失性相变存储内存PCRAM具有比DRAM更好的扩展性、功耗更低等特点，但其本身存在磨损错 误的问题。目前非易失性内存的最新容错技术Free-p方法在非易失性内存寿命后期会频繁引起操作系统中断，影响系 统性能和可靠性，甚至会导致内存系统的拒绝服务攻击。Smart-p方法针对Free-p方法做了改进，提出了粗粒度重映射 和细粒度重映射相结合~PCRAM磨损错误恢复机制，使得映射粒度灵活可变。该方法在不影响PCRAM使用寿命的情 况下，使操作系统中断数量下降54％，减少了中断对系统性能的影响，提高了系统的可靠性和安全性。 关键词：非易失内存；相变存储内存；容错；可靠性 中图分类号：TP391 文献标志码：A 文章编号：2095—2783(2012)04—0246—6 Smart-p：multi-grainedremappingwear-out recoverymechanism forPCRAM ZhuLongyun，ZhaoPeng，LiaoXueliang，WangYuping (1．BejiingHigherInstitutionEngineeringResearchCenterofIntelligentProcessingofVisualMediaandContentSecurity， Bejiing100084，China；2．DepartmentofComputerScienceandTechnology,TsinghuaUniversity，Befiing100084，China) Abstract：Theemergingnon-volatilememoriessuchasphase-changememory(PCRAM)havecharacteristicsofhigher scalabilityandlowerpowerconsumptioncomparedwithDRAM，buthteproblme ofwear-outexistsinherently．Atpresentas htelatestfault-toleranttechnology,Free-pwi llcausemOllinterruptstohteoperatingsystem，affectsystem performanceand stability,nadevenmaycausedenialofmemoryservice．Inthispaper,weimprovehteFree-pmehtodnadpropo seaSmart-p PCRAM wear-outrecovery mechanism，whichmakesremappniggrani abletoswitchbetweenfine—andcourse—granied Ilmapping．Smart-preduceshtenumbre ofoperatingsystem interruptsby54％ wihtoutimpactsonhtewrite enduranceof PCRAM，whichalleviateshteburdencausedbyhteniterurptsandimprovessystme satbiliytnadsecurity． Keywords：non—volatilememory；phase-changememory；fa