机电测试技术 教学课件 作者 赵树忠电子教案 第17课.docVIP

第 17 课 ■ 授课内容 第9章 测试系统的抗干扰技术 9.1 干扰的类型及来源 9.1.1 外部干扰和内部干扰 9.1.2 差模干扰和共模干扰 9.2 干扰的耦合方式 9.2.1 静电耦合 9.2.2 磁场耦合 9.2.3 漏电流耦合 9.2.4 共阻抗耦合 9.3 干扰抑制技术 9.3.1 屏蔽技术 9.3.2 接地技术 9.3.3 浮置（浮空、浮接）技术 9.3.4 灭弧技术 9.3.5 其他干扰抑制技术 ■ 课 时 数 2课时 ■ 重点难点 重点：1. 干扰的耦合方式。 2. 干扰抑制技术。 难点：干扰抑制技术。 ■ 授课方式 新课 ■ 所用教具 无 第9章 测试系统的抗干扰技术 学习目标 本章主要学习电磁干扰及其抑制的有关内容。学完本章后，应了解电子测试系统干扰的类型、主要来源及耦合方式，在此基础上对抑制干扰的屏蔽技术、接地技术、浮置技术等措施要有一定的掌握。 学习重点 1. 电磁干扰的耦合方式。 2. 抑制电磁干扰的主要技术措施。 干扰和噪声是由某些内部或外部因素产生的叠加在有用信号之上的无用成分（电压或电流）。 9.1 干扰的类型及来源 ■ 按干扰的来源分 ● 外部干扰 ● 内部干扰 ■ 按干扰进入测试系统的方式分 ● 差模干扰 ● 共模干扰 9.1.1 外部干扰和内部干扰 1. 外部干扰 外部干扰包括来自自然界的自然干扰及各种电气设备运行所产生的人为干扰。 ■ 自然干扰 各种自然现象如闪电、雷击、宇宙射线、温度、湿度等变化所产生的干扰。 ■ 人为干扰 各种电气设备运行时所产生的电磁干扰。 2. 内部干扰 测量电路内部各种元器件的噪声所引起的干扰。 9.1.2 差模干扰和共模干扰 1. 差模干扰 差模干扰也称为串模干扰、常态干扰、正态干扰，是干扰信号与有用信号相叠加的一种干扰，有直流和交流两种形式。交流差模干扰主要由外部的交变电磁场（例如工频交变电磁场）引起，直流差模干扰主要由接触电动势和热电动势以及漏电阻引起。 图9-1 差模干扰等效电路 图9-2 差模干扰作用示意图 2. 共模干扰 共模干扰也称为同相干扰或纵向干扰，是在测量信号源的公共电位基准点（接地点）和大地之间产生的一种干扰，它有对称和非对称两种形式。 图9-3 共模干扰等效电路 a) 对称 b) 不对称 9.2 干扰的耦合方式 干扰产生影响的三要素：干扰源、干扰的耦合通道、被干扰的对象。 9.2.1 静电耦合 静电耦合也称为电容性耦合。由于两个电路、之间存在着分布电容，当其中一个电路的电位发生变化时，该电路的电荷就会通过分布电容传递到另一个电路，这就是静电耦合。当干扰源的干扰电压为（频率为）时，在被干扰电路的输入端（输入阻抗为）所产生的干扰电压为 （9-1） 若，则 （9-2） 图9-4 静电耦合 图9-5 磁场耦合 9.2.2 磁场耦合 磁场耦合也称为互感性耦合。当两个电路之间存在互感时，一个电路中的电流（频率为）变化时就会通过磁场耦合到另一个电路中而产生干扰电压。被干扰电路输入端所产生的干扰电压为 （9-3） 9.2.3 漏电流耦合 由于测量电路内部的元件支架、接线柱、印刷线路板或外壳绝缘不理想，使相互之间存在漏电阻而产生漏电流引起干扰，这种干扰称为漏电流耦合干扰。干扰电压为 图9-6 漏电流耦合 （9-4） 式中，为被干扰电路的输入阻抗，为漏电阻。 9.2.4 共阻抗耦合 共阻抗耦合干扰的产生是因为两个或两个以上的电路中存在共同的阻抗。当一个电路的电流在共阻抗产生电压降时，该电压降就会叠加在其它电路上，成为它们的干扰电压，干扰电压的大小与干扰源的电流大小和共阻抗的大小成正比。共阻抗耦合干扰主要通过以下两种途径产生。 ● 通过电源内阻的共阻抗耦合干扰 ● 通过公共地线的共阻抗耦合干扰 9.3 干扰抑制技术 ■ 抑制干扰的途径