纳米Y-%2c2-SiO-%2c5-：Eu-%273%2b-荧光粉制备、表征与微结构研究.pdfVIP

摘要 摘要 Y茹i仉：R矿荧光粉是一种重要的稀土化合物，其中微米多晶粉Y。Si魄：Tb”已在 显象和照明光源等高新技术中广泛应用。随着纳米荧光材料的研究兴起，发现掺稀土 纳米材料的荧光特性的许多优异性能可以弥补微米体材料之不足，有文献称Y2Si05： Eu’的纳米粉比微米粉的发光亮度高，但有关纳米荧光粉微结构与荧光特性之间的关 联未见报导。本文旨在以如Si仉：Eu”纳米荧光粉作为研究对象，探讨纳米材料微结 构变化与荧光特性之间的关联，以及掺杂离子类别、基质材料的组态、材料制备方法 等与微结构变化之间的关系，为寻求荧光性能优异的掺稀土纳米发光材料奠定材料设 计的基础。 ． 本研究采用高分子网络凝胶法和凝胶燃烧法制备Y茹i05：Eu”纳米荧光粉。其中 Y2Si0。为基质，掺入的稀土离子Eu3．是发光中心，还研究了共掺Gr敏化剂的影响。 本研究详细研究了所选用的两种制备方法。在高分子网络凝胶法制备中研究了 PEG和PvA等高分子网络剂对最终粉体的影响，它们与钇离子形成烙合健，形成高分 子有机网，限制粒子的长大。并研究了先驱液配比、PH值、水浴温度、陈化时间、 烘箱温度及预烧煅烧温度等诸多因素对Y：Si05：Eu”纳米荧光粉晶粒大小的影响；其 中烧结工艺是重要影响因素，涉及到能否制得分散较好的纳米颗粒，因此着重研究了 烧结工艺对颗粒粒径的影响。已用此法制各出平均颗粒尺寸为25nIII、40姗、84砌、 103nm等不同粒径的纳米粉体Y晶os：Eu“。分析了影响粒径的因素，对制备粒径可控 的纳米粉体进而研究其微观结构相对于体材料的变化有一定意义。用燃烧法来制各 Y2s。06：Eu”荧光粉未见其他报道，本研究详细研究了甘氨酸的用量、硅钇配比、水的 含量、燃烧温度、煅烧温度对反应及最终产物的影响，重点研究了甘氨酸用量和燃烧 荧光粉均为微米粉，故本研究非常有商业价值，正在准备申请有关国家发明专利。 光光度计(UV)、傅立叶红外光谱仪(FT—IR)、荧光分光光度计等综合试验手段对 Y鑫ios：Eu”纳米荧光粉进行表征，系统研究了Y2s，05：Eu”纳米荧光粉的形貌、微观 结构和光学性能。 x射线衍射谱分析得知样品的结构为单斜晶系．950℃时纳米晶Y2Sios：Eu”已形 成。并利用单斜晶系的晶格常数公式，用最小二乘法计算晶格常数、晶面间必角和晶 胞体积。根据群论，详细讨论和分析了Y。S。05的晶体场，结合对称操作，绘…的x：型 的倒璃和键角，第二近邻氧配位数及各配位键的键l毛键角等数据，并与EXA“数据进 摘要 别是6和7；而x，型的Y1和Y2格位的配位数分别为8和7，但二种格位均有二个o} 离子未成键，计算成键的o}离子在Y格位的库仑场能，明显x2型的Yl和Y2格位的 要原因。已见的报道只有科大对Xl型的扩展x射线精细结构谱实验得到的平均键长 和平均配位数，本文运用微结构定性地解释了X：型比x。型发光强的结构原因。该方 面未见报道。 根据x射线衍射峰的宽度，利用谢乐公式计算晶粒尺寸，同时结合透射电镜和原 子力显微镜手段，对样品形貌、晶粒尺寸及分布状况进行研究，三种手段得到一致的 结果。 用傅立叶红外光谱仪研究了不同样品的红外光谱特性。发现X。型纳米样品的 生蓝移，在由X，型向X：型物相转型时峰位发生突变；Y(Eu)一0振动吸收峰的校正面积 和校正高度随颗粒增大而增大，比较晶粒大小相近的X。型和托型Y：S，05：Eu’，发现X： 型的Y(Eu)一0振动吸收峰的校正面积和校正高度小近一个量级。分析认为X2型Yl和 Y2格位的晶体场较X。的要强，晶粒体积减小对Y1和Y2格位的晶体场的影响较X，的 要大，因此晶粒减小对Y(Eu)一O振动能级的影响要大些，使吸收峰位蓝移。而Y(Eu)一O 振动吸收峰的校正面积和校正高度与Y(Eu)一O键的数目和键长二个因素有关。随着 纳米晶粒的减小，表面态Y(Eu)一O悬空键逐渐增加，Y(Eu)一O键振动态的数目的减 少，单位体积内从以”态跃迁到玎’态的分子数日(Ⅳ，．Ⅳ。)随之减少；根据文献扩 展x射线吸收精细结构分析(ExAFS)表明，Y(Eu)一O键的平均键长随着粉体粒径的 减小而增大，则电偶极矩随之增大，但表面态悬空键的数目随粉体的粒径减小而指数 增加，品粒内的Y(Eu)一O键的平均数目指数减少，而这种因素对吸收度彳的影响