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铝铜薄膜复合技术的研究现状.pdf

HotW orkingTechnology 2014,Vo1.43,No.22 铝铜薄膜复合技术的研究现状 陈 丽 邢丕峰 ,魏成富3,郭建军2’蒋斌 f1.中国工程物理研究院 激光聚变研究中心,四川 绵阳 621900;2.西华大学 材料学院,四川 成都 610039;3.绵 阳师范学院,四川 绵阳 621000) 摘 要 :综述 了铝、铜薄膜复合技术 的研究现状 ,介绍 了气相沉积法和扩散连接方法对铝、铜薄膜的复合 。气相沉积 分为化学气相沉积和物理气相沉积 ,最受人们青睐的是物理气相沉积中的磁控溅射沉积法 ;扩散连接方法 中讲述 了扩 散连接的过程 ,扩散工艺参数对扩散层组织结构 、扩散层厚度的影响。 关键词 :铝 ;铜 ;薄膜 ;气相沉积 ;扩散连接 中图分类号:TG146.2 文献标识码 :A 文章编号:1001—3814(2014)22—0026—04 Research ProgressofAluminum /CopperThin Film Composite CHEN Li,XING Piing,WEIChengfu3,GUO Jianjun2,J NGBinz (1.ResearchCenterofLaserFusion,ChinaAcademyofEngineeringPhysics,Mianyang621900,China;2.SchoolofMaterial Science and Engineering,XihuaUniversity,Chengdu610039,China;3.M ianyangNormalUniversiyt,Mianyang621000, China) Abstract:Thevapordepositionna ddiffusionbondingofaluminum/copperfilmwassummarized.Thevapordeposition canbedivideintochemicalvapordeposition andphysicalvapordeposition.Themostpopularismagnetron sputtering deposition inphysicalvapordeposition.Th eprocessofdiuff sionbondingwasdescribed.Theeffectsofdiuff sionprocess praametersonthediuff sionlayerstructureandhtehticknessofthediuff sionlayerduringdiuff sionbondingwerestudied. Key words:almu inum;copper;film;vapordeposition;diuff sionbonding 铝铜复合件 由于低密度 、高强度 、抗侵蚀 、抗磨 面处易产生硬而脆的金属间化合物 ”。此外 ,铝和 损和 良好的导电导热性等优 良综合性能,在电力、化 铜均易氧化,并且铝的氧化膜很难消除,这就给复合 工 、机械制造 、微电子和航空航天工业 中的应用非常 带来了很大困难 ,因此将厚度在微米量级的铝 、铜薄 广泛 一【-。例如 ,用真空扩散焊连接 的铝和铜的密封 膜成功 的复合在一起并达到所要求 的性能将是一个 接头可用于制造冷冻设备和水循环装置 ,以及 电力 难题。 设备的电器接头;铝铜合金薄膜由于其 良好的导 电 对于一般薄膜连接用到的机械连接和胶接 ,其 和工艺特性而常用于集成电路的内连接材料 。鉴 优点是操作简单、没有脆性金属间化合物的产生 ,但 于这些优 良的性能和用途,本文提出了铝铜 的复合 机械连接连接效率低 ,结构质量大;胶接对质量的控 问题 。 制比较困难 ,容易受环境的影响,产生多余物 、影响

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