内嵌金属富勒烯Y%40C82地同步辐射XAFS研究.pdfVIP

第八届全国新型炭材料学术研讨会论文集 ·513· 刘 蕾1， 储旺盛1， 钟 俊1， 高 斌1， 吴自玉1， 王春儒2 (1．中国科学院高能物理研究所，北京100049；2．中国科学院化学研究所，北京100080) 摘要： 内嵌金属富勒烯以其独特的电子结构与几何结构预示其在电子、光电子以及医疗领域有重大的应用前 景而受到研究者格外的关注。本文测定和拟合在低温(25 K)和室温(300K)下Y@C。：的XAFS谱，可以得到 Y@C。：中的Y的最近邻和次近邻配位壳层的结构参数，还可以得知Y—C两个壳层的配位距离基本没有随温度变 化，Y@C。：的两个壳层的原子分布即使在低温下也存在比较大的无序。 关键词： 内嵌金属富勒烯；Y@C82；XAFS l 前言 纯技术的限制，其所进行的XAFS实验，样品没有足 够纯和足够量而得出相反的结论¨’6J。尽管在1995 自1985年Kroto等发现C印不