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开关电源MOSFET 的交越损耗分析
随着环保节能的观念越来越被各国所重视,电子产品对开关电源需求不断增长,开关电源的功率损耗测量
分析也越来越重要。由于开关电源内部消耗的功率决定了电源热效应的总体效率,所以了解开关电源的功
率损耗是一项极为重要的工作。本文详细分析开关电源的核心器件之一MOSFET 开关管的交越损耗,从
而使电子工程师更加深入理解MOSFET 产生损耗的过程。
MOSFET 交越损耗
1.开通过程中MOSFET 开关损耗
功率MOSFET 的栅极电荷特性如图1 所示。
图1 MOSFET 开关过程中栅极电荷特性
开通过程中,从t0 时刻起,栅源极间电容开始充电,栅电压开始上升,栅极电压为
其中: ,VGS 为PWM 栅极驱动器的输出电压,Ron 为PWM 栅极驱动器内部
串联导通电阻,Ciss 为MOSFET 输入电容,Rg 为MOSFET 的栅极电阻。
VGS 电压从0 增加到开启阈值电压VTH 前,漏极没有电流流过,时间t1 为
VGS 电压从VTH 增加到米勒平台电压VGP 的时间t2 为
VGS 处于米勒平台的时间t3 为
t3 也可以用下面公式计算:
注意到了米勒平台后,漏极电流达到系统最大电流ID,就保持在电路决定的恒定最大值ID,漏极电压
开始下降,MOSFET 固有的转移特性使栅极电压和漏极电流保持比例的关系,漏极电流恒定,因此栅极电
压也保持恒定,这样栅极电压不变,栅源极间的电容不再流过电流,驱动的电流全部流过米勒电容。过了
米勒平台后,MOSFET 完全导通,栅极电压和漏极电流不再受转移特性的约束,就继续地增大,直到等于
驱动电路的电源的电压。
MOSFET 开通损耗主要发生在t2 和t3 时间段。下面以一个具体的实例计算。
输入电压12V,输出电压3.3V/6A,开关频率350kHz,PWM 栅极驱动器电压为5V,导通电阻1.5Ω,
关断的下拉电阻为0.5Ω,所用的MOSFET 为AO4468 ,具体参数为Ciss=955pF,Coss=145pF,Crss=112pF,
Rg=0.5Ω;当VGS=4.5V ,Qg=9nC ;当VGS=10V ,Qg=17nC,Qgd=4.7nC,Qgs=3.4nC ;当VGS=5V 且ID=11.6A,
跨导gFS=19S ;当VDS=VGS 且ID=250μA,VTH=2V ;当VGS=4.5V 且ID=10A,RDS(ON)=17.4mΩ。
开通时米勒平台电压VGP :
计算可以得到电感L=4.7μH.,满载时电感的峰峰电流为1.454A,电感的谷点电流为5.273A,峰值电流为
6.727A,所以,开通时米勒平台电压VGP=2+5.273/19=2.278V ,可以计算得到:
开通过程中产生开关损耗为
开通过程中,Crss 和米勒平台时间t3 成正比,计算可以得出米勒平台所占开通损耗比例为84%,因此米
勒电容Crss 及所对应的Qgd 在MOSFET 的开关损耗中起主导作用。Ciss=Crss+Cgs,Ciss 所对应电荷为Qg 。
对于两个不同的MOSFET,两个不同的开关管,即使A 管的Qg 和Ciss 小于B 管的,但如果A 管的Crss
比B 管的大得多时,A 管的开关损耗就有可能大于B 管。因此在实际选取MOSFET 时,需要优先考虑米
勒电容Crss 的值。
减小驱动电阻可以同时降低t3 和t2 ,从而降低开关损耗,但是过高的开关速度会引起EMI 的问题。提
高栅驱动电压也可以降低t3 时间。降低米勒电压,也就是降低阈值开启电压,提高跨导,也可以降低t3
时间从而降低开关损耗。但过低的阈值开启会使MOSFET 容易受到干扰误导通,增大跨导将增加工艺复杂
程度和成本。
2.关断过程中MOSFET 开关损耗
关断的过程如图1 所示,分析和上面的过程相同,需注意的就是此时要用PWM 驱动器内部的下拉电阻
0.5Ω和Rg 串联计算,同时电流要用最大电流即峰值电流6.727A 来计算关断的米勒平台电压及相关的时间
值:VGP=2+6.727/19=2.354V 。
关断过程中产生开关损耗为:
Crss 一定时,Ciss 越大,除了对开关损耗有一定的影响,还会影响开通和关断的延时时间,开通延时为
图1 中的t1 和t2 ,图2 中的t8 和t9 。
图2 断续模式工作波形
Coss 产生开关损耗与对开关过程的影响
1.Coss 产生的开关损耗
通常,在MOSFET 关断的过程中,Coss 充电,能量将储存在
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