X和γ射线成像阵列探测器-基本问题、发展和前瞻.pdfVIP

第，10届全田计算机在现代科学技木镊址应用拳术盒翟论文囊 cIl_眦synlp∞hn∞o岬ul甘^ppI．瞄t．啪in Pr。∞嘲n萨of伯10lh Mod帅sd∞∞肇TecI—Ico型 x和y射线成像阵列探测器 ——基本问题、发展和前瞻 许祖润 (四川大学物理系．成都，610064) 本文对x和|血像探测的基率问曩及探测器的发晨动向进行了综合评述．探讨了未来的发晨方向． 美_调tx和型．成像阵列探舅器’。～!’”1二≯ O引言 X和7射线成像探测器在工业和医学无损成像检测中有着广泛的应用，是这种系统重要 组成部件之一．成像探测器在高能物理、重离子物理、棱物理和原子分子物理的实验研究中均 起着极为重要的作用，正是这些颁域基础研究的需要．首先触动了成像探测器的研究． 我们将从物理的角度，结合实例，对x和7成像阵列探测器的基本问题和发展作一讨论． 1 x和y射线成像探测的一些基本问题 将X和7成像与可见光成像相比较．可以看出一些值得关注的基本问题．可见光成像的 特点：1)被成像物作为光源(反射或自发射)成像．2)可经透镜聚焦成像．使得大物体变为小像． 而x和7透射成像具有的特点是，1)从点或线辐射源发出的射线穿透被检测物体成像．2)至 今没有X和T射线。会聚透镜”．结果造成小的被检测物却需获取大的透射像．3)为检测物体 内部图像，需要入射X和7射线厶与该物质相互作用后，不被全部吸收，一定要有携带被检测 物信息的柬J出射．为了完成成像检测，对探测器的要求正好相反，需将J阻止，在探测器灵敏 体积内沉积尽可能多的能量．转变为大的可检测记录的电信号．X和7射线成像探测器面临下 列基本问题。1)要求大线度(直线或弧线)或大面积(平面或弧面)位置夏敏探测器．2)要求对选 定能量k的射线J(E)有足够大的阻止本领和探测效率。具有大而线性的动态范围．3)要求整 个探测器均匀性好，固有噪声小，不引起像模糊和伪像的形成． 2高能物理等领域“成像型”探测器的发展和启示 为研究和置建中能核反应过程需要一种大面积位置灵敏探澍器．高能棱反应产物几乎在 h立体角出现，需一种拥立体角的探谶器．60年代中出现了将单丝正比计致器突破性发展， 组成多丝阵列型正比室的成果．70年代出现了晶体球探测器，例如创造性地采用815个△E．E 探测器望远镜和176个TOF飞行时间探测嚣来组成包圈“角97％的晶体球谱仪． 这些探测器的结构和组成方法对成像探谢器研究的启示有；1)使用“组合氆”探澍器的方 法实现多功能、大立体角测量．2)采用同种和不同种多探测器的组合及探测器和读出电子学电 U4 路的组合完成成像探测． 3多丝室型x和y成像探测器 将两个丝平面方向互相垂直的丝宣适当组合。即可构成两维点阵列位置灵敏成像探测器． 为用多丝室实现对高能x和7射线透射像的探测，必须造成在探测器灵敏区中沉积尽可 能多能量，产生尽可能多的次级电子的条件．常采用t1)高z值元素充气气体，如Ar(z=18)， 接转换为出射的次级光电子和康普顿电子t或先经闪烁晶体换为紫外光，再经光电转换为电 子，由丝室定位探潮(或位敏光电倍增管定位探测)．实倒从略． 4微带型成像探测器 这种探测器是多丝室成像探测器的重大改进和发展．1)1988年法国人A．0ED提出了一 种微带阳极位置灵敏气体探测器．将现代光刻和教加工技术引入探潮器研制，作出了成功的范 倒。2)微问隙室．力图解决微带室中衬底介质表面的电荷堆积影响问题．3)陶瓷衬底气体像 元室．用檄电子印制和蚀刻技术加上多层介质和导电膜成膜技术镧作的一种成像阵列探测器． 5半导体阵列探测器 测器．方像元1xlmm2，厚o．5mm．像元间隔o．2mm，对140keV的x射线探测效率37％，空 闻分辨1．5mm左右。六角形HgL两维阵列探测器．在选定晶面的晶片上通过掩膜蒸镀制成， 六角形像元的直径1．sⅡlⅢ。相互间隔o．2mm。厚1．2mm。保证对59 keV的X射线探测效率为 59％，140 kev的X射线为67％．该方法可制作250pm的像元． 6位置读出方法