多电荷态离子束流发射度探测系统的研究.pdfVIP

多电荷态离子束流发射度探测系统的研究+ 曹云，孙良亭，何伟，马雷，张子民，赵环昱，赵红卫， 马保华，李杰，王辉，李锦钰，李锡霞，冯玉成，卢旺 (中国科学院近代物理研究所，甘肃兰州，73000) 摘要我们设计完成一套多电荷态离子束流发射度测量探测系统一电偏转扫 描探测器ESS(Electric Scanner)，目前安装在近代物理研究所原子物理实 Sweep 验平台LECR3离子源传输线上，用于研究LECR3离子源引出束流的品质。经过 数次的研究和改进，该探测器己发展成为较为可靠的发射度探测装置。从实验结 果可看出，探测器的测量误差在±10％以内。本文主要对发射度探测系统的性能、 可靠性等作了一定研究，并给出引出束流发射度的部分实验结果。 关键词多电荷态电偏转扫描探测器离子源发射度 衡量一台离子源的性能包括很多方面，其中束流品质是非常重要的 指标之一，而发射度就是束流品质的主要体现。测量和研究束流的发射 度就显得比较重要。目前，对发射度的测量，主要有拦截型和非拦截型 两类。拦截型发射度测量装置有双狭缝法、多孔屏栅法、两对交叉缝法、 孔屏法、双孔光栏法、狭缝多丝法等。非拦截型发射度测量主要有：三 剖面法、梯度法、带状线束流位置探测器法等。 ’、 拦截型发射度的测量能够得到四维或两维相空间的密度分布，提供 四维或两维相空间最完整的信息。缺点是阻挡束流，不能对束流发射度 和相空间信息进行连续测量，也不适合能量较高的束流。拦截型发射度 测量方法可对束流发射度进行连续检测，但相对于拦截型发射度测量方 法，它不能完全反映束流实际的发射度相图。 ECR 近代物理研究所设计建造的LECR3(LanzhouNo．3)… 离子源是一台高电荷态ECR离子源，其引出离子束流的特点 +基金资助：国家杰出青年科学基金 国家青年科学基金 57 是束流强度相对较大，能量较低，一般只有几十keV，如果假定 横向发射度两个方向互相不耦合，非常适合采用拦截型测量方法，可分 别测量x和Y两个方向的发射度。 1．发射度测量系统： 鉴于ECR离子源的特点，我们设计的发射度探测器采用了电偏转扫 描法，探测器的基本原理结构如图1所示。 柬流 图1发射度探测器基本原理结构图 基本原理是前狭缝取样束流的位置，给出位置信息；在每个取样的 位置上改变偏转板的电压，用法拉第筒测量流强，进行该位置处的束流 发散角扫描，从而测量束流的发射度01。 ESS探测器一共有两组，独立地安装在束流传输线的水平和垂直 方向，分别探测两个方向的束流发射度，实验装置布局图如图2所示。 图2ESS在束流传输线上的安装示意图 2．实验研究及分析： 我们针对LECR3离子源设计研制的束流发射度测量系统一电偏转 扫描器，在2003年上半年就对离子源引出的部分离子束流发射度进行 了探测，并得到了初步的实验结果【3】。为了进～步了解和研究束流的发 射度以及验证探测器的可靠性和性能，我们在部分改进探测器的基础 上，进行了大量的实验研究。图3给出了探测器对Ar8+和Ar”+离子束 的水平方向发射度(包括86％束流)多次测量的结果(实验室发射度)。 {毫 m 御 … 一口巴E 啪 伽 ∞ ∞ ^焉目．目Ev越杂越 EE五一卜卜卜 ∞ ∞ 。 测量次数 图3发射度多次测量 计