实验三 频率特性曲线测试.docVIP

1364957203 实验三 频率特性曲线测试 3.2.3 二阶闭环系统的频率特性曲线 一．实验目的 了解和掌握二阶闭环系统中的对数幅频特性和相频特性，实频特性和虚频特性的计算。 了解和掌握欠阻尼二阶闭环系统中的自然频率ωn、阻尼比ξ对谐振频率ωr和谐振峰值L(ωr)的影响及ωr和L(ωr) 的计算。 观察和分析欠阻尼二阶开环系统的谐振频率ωr、谐振峰值L(ωr)，并与理论计算值作比对。 改变被测系统的电路参数，画出闭环频率特性曲线，观测谐振频率和谐振峰值，、谐振峰值。 2．改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及闭环频率特性曲线，並计算和测量系统的谐振频率及谐振峰值， （1）将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入。 （2）构造模拟电路：按图3-2-3安置短路套及测孔联线，表如下。 （a）安置短路套 （b）测孔联线 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S2，S11，S12 3 A3 S8，S9 5 A6 S2，S6 1 信号输入 B2（）A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A3（OUT）→A6（H1） 4 负反馈 A3（OUT）→A1（H2） 6 相位测量 A6（OUT）→ A8（CIN1） 7 A8（COUT1）→ B8（IRQ6） 8 幅值测量 A6（OUT）→ B7（IN4） 9 跨接元件 （4K） 元件库A11中可变电阻跨接到 A2A（OUTA）和A3（IN）之间 （3）运行、观察、记录： ① 将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入，运行LABACT程序，在界面的自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析实验项目，选择二阶系统，就会弹出‘频率特性扫描点设置’表。 在该表中用户可根据自己的需要填入各个扫描点频率（本实验机选取的频率值f，以0.1Hz为分辨率），如需在特性曲线上标注显示某个扫描点的角频率ω、幅频特性L(ω)或相频特性φ(ω)，则可在该表的扫描点上方小框内点击一下（打√）。设置完后，点击确认后将弹出虚拟示波器的频率特性界面，点击开始，即可按‘频率特性扫描点设置’表规定的频率值，实现频率特性测试。 ② 测试结束后（约十分钟），可点击界面下方的“频率特性”选择框中的任意一项进行切换，将显示被测系统的闭环对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图）。 ③ 显示该系统用户点取的频率点的ω、L、、Im、Re 实验机在测试频率特性结束后，将提示用户用鼠标直接在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点（为了教育上的方便，本实验机选取的频率值f，以0.1Hz为分辨率，例如所选择的信号频率f值为4.19Hz，则被认为4.1 Hz送入到被测对象的输入端），实验机将会把鼠标点取的频率点的频率信号送入到被测对象的输入端，然后检测该频率的频率特性。检测完成后在界面上方显示该频率点的f、ω、L、、Im、Re相关数据，同时在曲线上打‘十字标记’。如果增添的频率点足够多，则特性曲线将成为近似光滑的曲线。 鼠标在界面上移动时，在界面的左下角将会同步显示鼠标位置所选取的角频率ω值及幅值或相位值。 ④ 谐振频率和谐振峰值的测试： 在闭环对数幅频曲线中用鼠标在曲线峰值处点击一下，待检测完成后就可以根据‘十字标记’测得该系统的谐振频率ωr ，谐振峰值L(ωr)。 图3-2-4 被测二阶闭环系统的对数幅频曲线 三．实验报告要求： 按下表改变图3-2-3所示的实验被测系统： 开环增益K（A3） 惯性常数T （A3） 积分常数Ti （A2） 谐振频率（rad） 谐振峰值（dB） 计算值 测量值 计算值 测量值 25 0.1 1 0.2 0.3 20 0.1 0.5 0.2 改变开环增益K（A3）、惯性时间常数T（A3）、积分常数Ti（A2），画出其系统模拟电路图，及开环频率特性曲线，並计算和测量系统的谐振频率及谐振峰值，和相频特性，实频特性 和虚频特性的计算。 2．了解和掌握欠阻尼Ⅰ型二阶闭环系统中的自然频率、阻尼比ξ对开环参数幅值穿越频率和相位裕度的影响，及幅值穿越频率和相位裕度的计算。 3．研究表征系统稳定程度的相位裕度和幅值穿越频率对系统的影响。 4．了解和掌握Ⅰ型二阶开环系统对数幅频曲线、相频曲线、和幅相曲线的构造及绘制方法 二．实验内容及步骤 1．被测系统模拟电路图的构成如图3-2-3所示（同Ⅰ型二阶闭环系统频率特性测试构成），测试其幅值穿越频率、相位裕度。 2．改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及开环频率特性曲线，並计算和测量其幅值穿越频率、相位裕度， （1）将数/