基于线阵CCD的特征标志光电检测传感器地研究.pdfVIP

第五届全国光子学大会会议论文集 第五分册：光电与光谱技术 基于线阵 CCD 的特征标志光电检测传感器的研究 林梓荣，徐杜，蒋永平，张道勇 广东工业大学信息工程学院，广州，五山，510643 摘要：本文针对目前工控行业对特征标志位置检测越来越高的要求，提出了一种基于线阵CCD 的特 征标志光电检测传感器的实现方案，并提出像元补偿和边缘位置差值算法等处理方法，对系统的软 件实现作了详细的介绍。该传感器具有电路简单、体积小、抗干扰能力强、两路模拟量输出、一路 数字量输出等特点与合适的测量范围和精度，可满足多种特征标志的位置检测要求。 关键词：线阵CCD，光电传感器，光电检测及仪器，二值化，印刷特征标志检测，C8051F023 1. 引言 随着纺织、商标、印刷包装业的不断发展，对防伪标志的制造要求越来越高，传统的特征标志 检测技术已难以胜任精度高、速度快的切割要求。解决方法之一是在原有切割机的基础上，安装一 套视觉系统，并结合目前高端的DSP 技术，完成全自动视觉检测与定位切割功能。该方案的缺点是 体积大，成本较高；另一种方法是采用双光路光电传感器，检测分条线或边缘特征信号，由硬件电 路判断分条线或边缘信号的精确位置或位置偏移量，提供给纠偏控制装置。这个方案体积小、成本 低，实时性好。本文讨论的是在第二种方法中采用小型线阵CCD 的方案。 目前在印刷包装机械上，例如：光电分条机、凹印机、包装机、腹膜机、卷膜机等上大量使用 的是模拟量光电传感器，采用双路光敏元件检测彩印膜分条线或边缘特征信号，在对线或边缘特征 信号进行检测时用模拟量比较或对该模拟量进行A/D 转换后的数字量比较的方法，涉及幅值检测和 阈值选取等问题，其检测精度不高，抗干扰能力弱。本文提出一种采用线阵 CCD 和高性能单片机 C8051F023 进行信号处理的光电检测方法。该方法电路简单、体积小、精度高、抗干扰能力强、成 本低，可广泛应用于特征标志的精确位置检测。 2. 系统的硬件结构及工作原理 在本系统中，可分为数据采集和信号 处理两大部分。 线阵CCD 及其 PGA ADC LCD 显示 1) 数据采集部分 驱动器 用户输入 由两个LED 线光源、成像镜头、CCD 线阵CCD RAM 8051 数字量输出 及其驱动器、单片机内部的 ADC 转换器 内核 DAC1 模拟量输出 1 构成了CCD 数据采集系统。 线光源 1 线光源2 DAC2 模拟量输出2 采用 128 位像元的线阵CCD，A/D 转 特征标志 C8051F023 换选用C8051F023 内部自带的8 位A/D 转 换器ADC1 ，采样速率为500Ksps 。ADC1 图1. 特征标志位置检测原理框图 带有一个四档可编程增益放大器（PGA ）， 275 第五届全国光子学大会会议论文集 第五分册：光电与光谱技术 用它可构成一个数控增益放大器，使系统的检测范围大大得到提升。 2) 信号处理部分 信号处理选用8 位高速单片机C8051F023 。该单片机内部资源丰富，其最高工作频率为25MHz ， 内部有4KB 的数据RAM 和两路 12 位的D/A 转换器等。此外还有丰富的中断资源。这些突出的性 能为CCD 信号实时处理提供了保障。 在基于CCD 的应用系统中，由于背景浓淡不同、光强不均匀、特征标志信号与背景的不同反差， 都会给特征标志的提取及精确检测带来困难。因此，除了尽可能的选取稳定而强度均匀的光源外，