统计技术(SPC)符号.docVIP

1）N：批量 2）n：样本大小（样本数） 3）d：不良数 4）p：不良率（％）= 5）：平均不良率=（用不科学，不能采用） 6）P：概率（机率） 7）σ：群体标准差= 8）α：第一种错误 9）β：第二种错误 10）Σ：总和 11）x：实测个别值（xi=每个个别值） 12）：= 13）（Xbarbar）：制程总平均值= 14）R：极差＝（在某些情况下称之为：组距一组数据内的极差或全距一群数据内的极差） 15）SU=USL：规格上限 16）SL＝LSL：规格下限 17）T：规格公差（SU-SL） 18）T／2：规格容许差（） 19）μ：规格中心（） 20）UCL：管制上限（计算公式见讲义中各种管制图的管制界限计算方法） 21）LCL：管制下限（计算公式见讲义中各种管制图的管制界限计算方法） 22）CL：中心线（计算公式见讲义中各种管制图的管制界限计算方法） 23）S：样本标准差（） 24）u：单位缺点数 25）c：缺点数 26）pn：不良数 27）（xmid）：中位数 28）Rm：移动全距 29）Ca：准确度％（具体公式见讲义） 30）Cp：精密度（具体公式见讲义） 31）Cpk：制程能力指数（Within）－只分析非机遇原因（具体公式见讲义） 32）Ppk：过程总性能指数（Overall）－分析非机遇和机遇原因（具体公式见讲义） 33）Cpu：单边上限能力（当单边规格时，以3σ为基准