平均瞬态电流测试向量产生方法地研究.pdfVIP

平均瞬态电流测试向量产生方法的研究+ 尤志强牛小燕闵应骅张大方邝继顺 r湖南大学计算机与通信学院，长沙，410082)．· 摘要：本文论述了基于布尔过程的平均瞬态电流测试(岛Dr)ATPG方法实现的主要困 难本文应用遗传算法，对CMOS电路固定开路故障做平均瞬态电流测试／DDr测试产生，产 生无冒险的测试向量对．给出了1SCAS85、ISCAS89部分电路的实验结果．实验结果表明， 刑1。规模较小且逻辑深度较小的电路，用此方法呵以取得较好的结果． 关键词：瞬态电流，测试生成，CMOS电路，嘲定开路故障，遗传算法 中图分类号：TP302 、／ Methodfor A Generation Test IDDT Niu，Yinghua Zhang，JishunKuang You，Xiaoyan Min，Dafang Zhiqiang