1-3塞曼效应.doc

1-3塞曼效应 实验目的和要求： 了解塞曼效应的重要意义和原理；学习调节光路，学习使用高分辨气压扫描式法布里-珀罗标准具（F-P）和光谱测量技术；观测和研究Hg放电灯的546.1nm光谱线在外磁场作用下的塞曼分裂现象和谱线的超精细结构；根据实验结果研究原子能级结构，获得有关分裂能级的参量。 教学内容： 计算Hg灯546.1nm光谱线在磁场作用下分裂的各子谱线的条数、偏振方向、波数变化，和相对强度，作出能级分裂图和光谱分裂示意图。 调节光路的准直和共轴，调节F-P标准具的平行度；观察F-P标准具产生的等倾干涉圆环随F-P内空气折射率的变化；通过气压扫描，用光电倍增管扫描测量546.1nm光谱线的强度随气压的变化，要求达到高分辨率，观测到超精细结构。 加垂直观测方向的磁场，观察F-P后干涉圆环的分裂、分裂环的相对强度和偏振状态；用气压扫描测量546.1nm谱线分裂出的9条光谱，测量不同偏振状态下的光谱。 分析塞曼分裂谱，计算各分裂子谱线的波数差和相对强度，并与理论值作比较，求荷质比；从塞曼分裂谱中分析得到原子能级的J量子数和g因子。 实验过程中可能涉及的问题 (有的问题可用于检查学生的预习情况，有的可放在实验室说明牌上作提示，有的可在实验过程中予以引导，有的可安排为报告中要回答的问题，有的可作为进一步探索的问题。不同的学生可有不同的要求。) 塞曼效应是如何产生的？原子在外磁场下的能级分裂由哪些因素决定？根据你的理论计算，在1T磁场的作用下，Hg546.1nm光谱线分裂成几条谱线？分裂谱线的偏振态为什么不同？分裂谱线的相对强度是多少？分裂谱线的波数差为多少cm-1? 本实验通过什么方法分辨测量这么窄的光谱分裂？F-P的自由光谱范围如何定义，在实验中有什么作用？用气压扫描式F-P标准具实现高分辨光谱测量的实验条件有哪些（光路，平行度，准直，光电倍增管前加小孔光阑… ）？ 随着F-P内气压即空气折射率的变化，为什么可以观测到分裂谱线重复出现？如何把实验测量结果中光强随气压的变化，标定转化为，光强随谱线波数的变化？此种标定的前提条件是什么？如何尽量减少相邻谱线的互相影响？如果谱线的裂距和强度与理论计算有偏差，可能是什么原因造成的？ 实验装置说明： 1． 光源及磁场：Hg灯与电源（注意Hg灯上高压的安全），电磁铁与电源（注意电磁铁发热效应，Hg灯为何需置于磁场中心？） 2． 光谱测量：透镜、偏振片和干涉滤光片（各起什么作用？）；气压扫描式F-P标准具、成像透镜和带小孔光阑的光电倍增管（各起什么作用，如何调节，观察到的光学现象？） 3． 控制和数据采集：气压扫描控制器（注意在升压状态下测量）, 光电倍增管电源系统（注意屏蔽背景光后加高压使用），计算机数据采集（实验测量的是什么物理量？） 实验的主要内容和问题： 1．Hg灯置于电磁铁中央，在垂直磁场方向观测光谱（平行磁场方向的塞曼分裂光谱会有什么不同？测量方案上有何不同？） 2．调节整体光路，使Hg灯像、等倾干涉圆环的中心、以及观测点的中心达到准直、共心、共轴。（为什么有这些要求？如何逐步调节并判断？） 调节F-P标准具的平行度。（这部分调节对测量塞曼分裂谱很重要，为什么？如何通过粗调和细调来判断F-P标准具各方向的间距是否一致？F-P标准具的平行度如何在Hg的546.1nm谱线的测量中反映出来？） 4．加入射窗带小孔光阑的光电倍增管，确认光电倍增管与F-P共轴。（为什么要在光电倍增管的入射窗加小孔光阑？为什么需进一步确认共轴？） 5．测量546.1nm谱线的光强随气压变化曲线，当光谱显示系统调节达到要求再加磁场。测量其9条分裂光谱线的光强随气压变化曲线。（如何从546.1nm谱线中判断系统调节达到要求？可能影响谱线的原因是哪些？） 6． 加偏振片并调节偏振片方向，观察塞曼分裂谱中?偏振?偏振