基于IEEE标准的高速高精度模拟数字变换器通用测试系统的设计.pdfVIP

基于IEEE标准的高速高精度模拟数字变换器 通用测试系统的设计 赵雷李玉生刘小桦安琪 安徽省物理电子学重点实验室中国科学技术大学近代物理系合肥230026 Phone：055l一3606782 Email：—zlei@mail．u—stc．edu,cn to Converter，简称ADC)的 摘要l随着当代对高速高精度模拟数字变换器(AnalogDigital 需求的增大，如何对这些高品质的ADC进行测试并给出可靠的结果，就成为一个越来越重 Std．1241．2000标准，通过计算机分析ADC的输出码 要的问题。此ADC测试系统基于IEEE 而给出可靠的结果。同时，此系统着眼于“通用性”，可以测试各种性能段和类型的ADC． 在测试高速高精度的ADO(最大16bit，采样率最高达到166Msps)时更有出色的性能。文 中将对ADC测试的相关方面进行介绍，并结合对商用ADC芯片实际进行测试的结果展示