何静-纳米微粒尺寸的评估.pptVIP

2.X射线衍射线线宽法（谢乐公式） 电镜观察法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。X射线衍射线宽法是测定颗粒晶粒度的最好方法。 当颗粒为单晶体时，该法测得的是颗粒度。颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶体的平均晶粒度。这种测量方法只适用晶态的纳米粒子晶粒度的评估。试验表明晶粒度小于等于50nm时，测量值与实际值相近。反之测量值往往小于实际值。 当晶粒度很小时，由于晶粒的细小可引起衍射线的宽化，其衍射线半高强度处的宽化度B与晶粒尺寸D关系为：  D=0.89λ/B cosθ 式中，λ为X射线的波长 ; B表示单纯因晶粒度效应引起的宽化度（单位为弧度），为实测宽化BM与仪器宽化BS之差； BS 可通过测量标准的半峰值强度处的宽度得到。 BS 的测量峰位与BM 的测量峰位尽可能接近。最好是选取与被测量纳米粉相同材料的粗晶样品来测得BS 值。θ为衍射角；D为沿晶面垂直方向的晶粒大小 5.拉曼散射法(Raman) 纳米材料中晶体与常规晶体中的粒径的差别导致其晶体有序程度不同，两种晶粒中对应同一键的振动模也有差别，即纳米晶粒的拉曼峰与常规材料相比发生移动。Raman散射法可测量纳米晶晶粒的平均粒径，粒径由下式计算： 式中：B为一常数, ??为纳米晶Raman谱中某一晶峰的峰值相对于同样材料的常规晶粒的对应晶峰峰位的偏移量。 * * 第四节 纳米微粒尺寸的评估 一、几个基本概念 （1）? 关于颗粒及颗粒度的概念 ①?晶粒：是指单晶颗粒，即颗粒内为单相,无晶界。 ②一次颗粒：是指含有低气孔率的一种独立的粒子。 ③团聚体：是由一次颗粒通过表面力或固体桥键作用而形成的更大的颗粒。团聚体内含有相互连接的气孔网络。团聚体可分为硬团聚体和软团聚体两种。团聚体的形成过程使能量下降。 ???④ 二次颗粒：是指人为制造的粉料团聚粒子。例如制备陶瓷的工艺过程中所指的“造粒”就是制造二次颗粒。 纳米微粒一般指一次颗粒：它的结构可以为晶态、非晶态和准晶态。在晶态的情况下，纳米粒子可以为多晶体，当粒径小到一定值后则为单晶体。只有纳米微粒为单晶体时，纳米微粒的粒径才与晶粒尺寸相同。 (2)?? 颗粒尺寸的定义 对球形颗粒来说颗粒尺寸（粒径）即指其直径。对不规则颗粒，尺寸的定义常为等当直径，如体积等当直径，投影面积直径等等。 二、纳米颗粒的粒径测量方法 1. 透射电镜观察法(TEM观察法) 该方法是一种颗粒度观察测定的绝对方法，因而具有可靠性和直观性。由于单晶观察用的粉末数量极少，因此此法不具有统计性. 首先将纳米粉制成的悬浮液滴在带有碳膜的电镜用Cu网上，待悬浮液中的载液（例如乙醇）挥发，放入电镜样品台，尽量多拍摄有代表性的电镜像，然后由这些照片来测量粒径。 测量方法3种 a. 交叉法：用尺任意地测量约600颗粒的交叉长度，然后将交叉程度的算术平均值乘上一统计因子（1.56）来获得平均粒径； b. 测量约100颗粒中每个颗粒的最大交叉长度，纳米微粒粒径为这些交叉长度的算术平均值。 c. 求出纳米微粒的粒径或等当粒径，画出粒径与不同粒径下的微粒数的分布图，将分布曲线中峰值对应的颗粒尺寸作为平 均粒径。用此种方法测得的颗粒粒径，不一定是一次颗粒，往往是由更小晶体的或非晶体、准晶微粒构成的纳米级微粒。这是因为在制备电镜观察用的药品时，很难使它们全部分散成一次颗粒。 这种测量方法的优点是可以直接观察颗粒是否团聚。缺点是取样的代表性差，试验结果的重复性差，测量速度慢。 CNTs的SEM图 CNTs和Bi2O3·SnO2/CNTs粒子的碳纳米管（b）SEM图 ? 纳米MgO·SnO2的TEM图 纳米PbSnO3的TEM图 纳米PbxCu1-xO2的TEM图 纳米CuO·Cr2O3的TEM图 纳米邻苯二甲酸Pb(Ⅱ)配合物的TEM图 氧化后的CNTs的TEM图 Pd/CNTs 的TEM图 Bi2O3/CNTs的TEM图 CuO/CNTs的TEM图 Cu2O-Bi2O3/CNTs 的TEM Bi2O3·SnO2/CNTs粒子的碳纳米管TEM图 配合物La2(PHT)3∶0.001Eu的 TEM照片 配合物La2(PHT)3∶0.01Sm 的TEM照片 MgO-SnO2的X-射线衍射图 3．比表面积法 通过测定粉末单位重量的比表面积Sw，可由下式计算纳米粉中的颗粒直径（设颗粒呈球形）：