基于DSP平台的一种光耦器件检测方法.pdfVIP

第 35 卷第 3 期 东 北 师 大 学 报 自 然 科 学 版 Vol . 35 No . 3 2003 年 9 月 J OU RNAL OF NOR THEA ST NORMAL UN IV ERSI T Y September 2003 [文章编号](2003) 基于 D SP 平台的一种光耦器件检测方法 钱志鸿 ,戴宏亮 ( 吉林大学通信工程学院 ,吉林 长春 130025) [摘 　要] 　根据小波变换的 Mallat 塔形算法提出了一种微弱信号的小波检测 法 ,利用这种方法 ,借助 D SP 平台 ,对 G0 103 光耦器件进行了检测实验 ,结果表 明 ,该检测方法对光电耦合器件低频噪声的辨识是有效的 ,与传统的时域和频域 检测方法相比,此方法更精确 、直观. [ 关键词] 　D SP ;光耦器件 ;检测 [ 中图分类号] 　TN 9 11 　　　[ 文献标识码] 　A 1 　引言 光电耦合器是比较有代表性的新型半导体器件. 这种器件具有体积小 、寿命长 、无触 点、抗干扰性强等优点 ,可以替代继电器 、变压器 、斩波器等多种器件 , 因此被广泛用于隔 离线路 、开关电路 、数模转换 、长线传输 、过流保护 、高压控制 、电平匹配 、线性放大等众多 场合. 检测光电耦合器件的噪声要达到两个 目的:一是通过测试器件噪声来改进制造工 艺 ;二是通过测量器件的噪声模型及其参数来实现电路的低噪声设计. 光电耦合器件具有与其他半导体器件类似的噪声特性 ,多种噪声交叠在一起使其检 测过程变得非常复杂[ 1 ] . 当器件的 Si - SiO2 表面 、PN 结及沟道内部存在缺陷时 ,过激 1/ f 噪声 、过激 g - r 噪声将会明显增加. 如何把过激 1/ f 噪声 、过激 g - r 噪声与背景噪声 剥离开来, 从而把有缺陷和无缺陷的光电器件区分开, 这已成为弱信号检测研究领域的有 关专家近年来煞费苦心的研究课题, 并已总结出维纳滤波 、卡尔曼滤波 、自适应滤波和匹 配滤波等检测理论及技术. 维纳滤波技术实质上是一种在最小均方误差准则下的最佳线性滤波方法 ,适用于需 要从噪声中分离出整个信号波形的情况 ,而不只是它的一个或某几个参量. 这种方法是在 已知信号和噪声的相关函数或功率谱的情况下 ,将带噪声干扰信号的最优滤波值与预测 值求解出来. 因而 ,维纳滤波只适于平稳随机过程. 卡尔曼滤波技术是建立在信号时间序列模型基础上的线性递推滤波及预测理论方 法 ,在对系统信号模型与观察模型及其统计特性做了某些在实际应用中具有相当广泛的 [ 收稿 日期] ( ) ( ) [ 基金项 目] 　国家自然科学基金资助项 目 ;吉林省科技发展计划基金资助项 目 200 10582 ( ) [作者简介] 　钱志鸿 1957 - ,男 ,博士 ,副教授 ,主要从事微弱信号检测理论及技术 、通信与信息技术 、蓝芽技 术 、故障诊断技术等研究. 34 东 北 师 大 学 报 自 然 科 学 版 第 35 卷 假设后 ,给出了一套最佳线性滤波的递推算法 ,既可以方便地用到非平稳随机过程中去 , 又便于解决矢量信号波形的最佳线性滤波问题. 但是卡尔曼滤波必须对信号和噪声的统 ( ) 计特性 数学期望 、相关函数 有先验知识 ,而在实际应用中 ,常常无法预先知道这些统计 特性 ,况且 ,这些统计特性是随时间变化的 , 以致无法实现最优滤波. 自适应滤波和匹配滤波也都是具有理论和应用价值的检测方法 ,但前者的降噪效果 严重依赖于测量信号中噪声与参考噪声的相关性 ,后者过于依赖待测信号的某些先验信 息 ,使它们在处理过激 1/ f