毕业设计（论文）-采用CPLD和VHDL语言光电编码器的设计.docVIP

目 录 摘 要 2 1 引 言 4 1.1相位测量的应用 4 1.2 相位测量技术的历史和现状 5 1.3 鉴相型系统的工作原理 6 1.4 相位测量的各种方法及其基本原理 6 1.5 相位测量误差的产生 7 2 光电编码器测量原理及应用 8 2.1 光电编码器分类 8 2.2 光电编码器原理及应用 10 2.2.1 光栅测量原理 10 2.2.2 辨向原理 12 2.2.3 细分技术 13 2.2.4 本设计对光电编码器的要求 13 3 CPLD及vhdl语言 14 3.1 CPLD和VHDL语言简介 14 3.1.1 CPLD 14 3.1.2 VHDL语言 16 3.2 VHDL开发环境 17 4 四倍频细分法测相位的vhdl语言实现 18 4.1 测量原理及方案 18 4.2具体实现过程 19 4.2.1 四倍频的实现 19 4.2.2 鉴向的原理及实现 22 4.3 vhdl语言程序设计 22 4.4结果分析 24 4.4.1 编译仿真 24 4.4.2 比较分析 26 4.4.3 误差分析 26 5 总 结 27 致 谢 28 参考文献 29 附 录 30 光电编码器是一种可以传递位置信息的传感器。四倍频细分法在相差莫尔条纹的间距位置上安装两个光电元件，得到两个相位相差π/2的电信号四个计数脉冲，实现四倍频细分编码器CPLD 数据采集 　　　　　　　　　　 图1-1 正弦信号间的时间关系 1.1相位测量的应用 相位的测量通常是指两个同频率信号之间相位差。相位计是一种应用非常广泛的电子测量仪器。 随着科学技术的发展，相位测量技术的应用己深入到各个领域，包括电力、机械、航空航天、医疗、化工等。正确使用相位测量技术可以解决电气、电子及其它非电量测量的许多问题。例如： （1）测量网络的传输特性。只要测出幅频特性及相位特性，就可了解网络的全部传输特性。 （2）测量谐振频率。根据谐振时其相位移为零特性即可求出其谐振频率。 （3）测量时延特性。通过测量被测网络的相位，可得到被测网络的相时延、频率特性及群时延频率特性。 （4）测量和校正伺服系统。 相位测量技术经常应用于光电伺服控制伺服控制经历了交磁电机扩大机系统、磁放大器控制、晶体管控制、集成电路控制、计算机控制的发展过程，至今已进入了一个全新的时期，其主要标志为智能功率集成电路和数字信号处理器的出现，使得伺服系统模块化和全数字化容易实现，长期以来建立在现代控制理论或其它一些复杂控制算法基础上的控制原理得以快速在线计算及进行对系统的优化处理。在伺服系统的设计中，在实时性允许的前提下，一般来说，总是尽可能的用软件资源代替硬件资源，以降低成本，简化硬件系统结构，提高系统的性价比NBS、HP、100GHz. 相位分辨率可达0.0010，相位测量范围为360度，-180度—180度，少数可达720度。 随着电子技术的迅速发展，国外从60年代后期开始设计和制造低频相位计，并开始用于工频相位的测量。在国内，60和70年代是相位测量研究的黄金时代，有众多的研究所、工厂及其它行业部门均进行了相位测量技术的研究并取得了一定的成果。1964年我国第一台相位测量仪器US2型交流相位差计问世，其极限误差为30度。1979年12月国家计量总局正式批准进行相位量值传递。从80年代开始，将微处理机广泛地用于各个技术领域，多种型号的电子相位计投入市场，取代了以往的相位计。在70年代中期以后，由于资金、技术、管理、市场等因素的原因，国内相位测量技术的发展进入了低潮，研究相位测量的单位和科技人员越来越少。目前，国内生产商品化相位计的主要厂家仅有两三家，而且型号少。总的说来，我国的相位测量技术与先进国家相比尚有较大的差距，主要体现在产品品种较少，配套产品少；产品测试功能单一；仪器精度、数字化和自动化程度不高；相位计量标准不完备。 目前国外提出了改进相位测量精确度的方法，包括有： （1）采用专用数字处理芯片，利用正余弦表格及付立叶变换等方法来计算相位差，可大大提高测量精度。 （2）采用新器件及设计方法提高相位测量精度及展宽工作频率范围。 （3）采用新的算法来进行相位测试。 （4）采用高精度相位测量设备，得到相位输出信号(可精确到0.0010)，利用桥路与输入信号相位进行比较，从而测出相位差。 现代电子测量仪器与智能测量技术、计算机技术紧紧结合在一起，每一次计算机技术和电子技术的革命都带来电子测量仪器的革命。因此，只有不断的采用新技术和新方法，才能使相位计的性能和精度得以不断的提高。 1.3 鉴相型系统的工作原理 在鉴相型系统中，激磁电压是频率、幅值相同，相位差为 π/2的交变电压： Us = Um sin