基于FPGA的指纹特征点集匹配的设计与实现.pdfVIP

基于FPGA 的指纹特征点集匹配的设计与实现 李大伟，蔡安妮 北京邮电大学，北京 (100876) E-mail：davyli1982@ 摘 要：指纹特征点集匹配是指纹硬件粗匹配中的一个重要步骤和环节，本文简要介绍了指 纹特征点集匹配的基本原理，基于该原理提出了硬件实现结构，并对各关键模块所用的设计 方法进行了详细介绍，仿真结果表明，该设计方案满足设计要求。 关键词：指纹特征点集匹配，FPGA ，并行处理 中图分类号：TP332.1 1. 引言 近年来，指纹自动识别在刑事侦破工作中发挥着越来越重要的作用。然而对于庞大的指 纹库，辨识的时间成为设计指纹自动识别系统一个瓶颈，缓解这一瓶颈的途径之一就是采用 带有硬件加速的两级匹配算法，即首先利用硬件实现粗匹配，然后用软件对筛选出的候选指 纹再作精细匹配[1] 。硬件粗匹配是基于指纹特征点进行匹配的，它包含两个步骤：指纹对齐 和指纹特征点集匹配[2] 。 指纹特征点集匹配是指将待匹配指纹和库指纹按照计算出来的指纹旋转偏移量对齐之 后，通过计算求出待匹配指纹与库指纹相似的特征点对，最后对这些特征点对进行统计，判 断两枚指纹是否匹配。 2. 原理介绍 给定指纹特征点集 A 和 B ，分别对应根据旋转偏移量对齐之后的一枚待匹配指纹和一 枚库指纹。其中A 中的点数最多为96，B 中的点数最多为128，A 和B 处于同一个直角坐 标系下，点的信息包括X 、Y 和θ，其中X 表示该点的横坐标值，Y 表示该点的纵坐标，θ 表示该点的纹线方向。 对于点集A 中的任一点，要与B 中的每一个点进行比较，按照X 、Y 和θ偏差加权之 和最小的原则，求出点集B 中与点集A 中的这一点最相似的点。 3. 硬件实现结构 考虑到硬件本身的特点，该算法的硬件实现结构采用了一些专用的设计方法，包括并行 处理、乒乓操作和流水线设计，如图1 所示为该电路的硬件设计框图。 3.1 并行处理 并行处理是硬件设计的一个重要特点和设计方法。考虑到点集 A 中的任一点都要与点 集B 中的每一个点比较，本设计采用并行处理的设计方法，点集A 中每一个点对应一个并 行比较支路。然而，点集 A 对应的是待匹配的指纹，一般是从犯罪现场提取的指纹，其所 包含的特征点数也随着所提取指纹图像的质量不同而有很大的变化。经过粗略统计，特征点 数在30 之内的占居了40~50%左右，60 之内的则占据了80~90%，而点集A 中特征点数的 最大值为96 。如果直接将并行支路定为96，那么将会有很大一部分资源是浪费的，因此本 设计采用了分段比较的半并行处理方法。 如图1 所示，本设计采用了32 路的并行支路比较，每次最多比较点集A 中的32 个点， - 1 - 并用rest 信号指示点集A 中的点是否比较完毕。如果rest 为‘0’，则表示当前待测点集A 已 经与对应的库指纹点集B 比较完毕，开始申请比较下一对待测点集。 图1．指纹特征点集匹配硬件电路设计框图 3.2 流水线 流水线设计是高速设计中的一个常用的设计手段。如图1 所示，比较模块所完成的功能 是计算输入的两个点的X 、Y 和θ的偏差∆x ,∆y ,∆θ （包括两步：求∆x ,∆y ,∆θ和调节∆θ 到(-180，180]的范围），然后判断各个偏差是否小于给定的容限误差，接着根据这些偏差求 其加权平均值，最后比较这些偏差的加权平均值，从库指纹点集B 中找出与待测点集A 的 当前点最相似的点。 求 调节∆θ 到 判断偏差是 求容限的加 比较得出偏 ∆x , ∆y , ∆θ (-180,180) 否小于容限 权平均值 差最小的值