12 原子吸收光谱法.pptVIP

二、AAS的发展 三、特 点 第二节 基 本 原 理 二、基态原子与被测元素含量的关系 非光谱法不涉及 基态原子与被测元素含量的关系 三、谱线轮廓与谱线变宽 3、谱线变宽的主要原因 自然宽度：无外界条件影响时的谱 线宽度称为自然宽度。 ?νD是制约原子吸收谱线宽度的主要因素 压力变宽(pressure broadening)： 在一定蒸汽压力下，因粒子间相互碰 撞而引起。 B.赫兹马克变宽（同种原子碰撞）：随试样原子蒸气浓度的增加而增加。在测定条件下，样品的蒸气压较低，可忽略。 自吸变宽：自吸收现象引起的变宽。 当灯发射谱线时，部分光强被灯内未激发的同类基态原子吸收，使谱线的中心强度降低，引起变宽。 灯电流增加，自吸变宽增加。 火焰法以洛伦兹变宽为主无焰法以热变宽为主 原子吸收线轮廓是同种基态原子在吸收其共振辐射时被变宽了的吸收带，原子吸收线轮廓上的任意各点都与相同的能级跃迁相联系。 谱线的半宽度在10-3nm数量级， 要测定如此窄的谱线的积分吸收需 要精确地扫描其吸收线轮廓，这就 要求必须采用高分辨率的单色仪。 2. 峰值吸收法 (peak absorption method) 在一定条件下，直接测量K0来确 定蒸气中的原子浓度，峰值处测得的 吸收值与被测元素的含量成线性关系。 实现峰值测量的条件： 有能发射与被测元素吸收线相应的 特征谱线的灯作为锐线光源； 发射线中心频率与吸收线中心频率 一致，且有足够的强度； 发射线必须比吸收线窄得多（1/5）。 二、原子化系统 （1）喷雾器 （2） 雾化室 （3）燃烧器 低温原子化（化学反应） 2、氢化物发生法：易形成共价氢化物的样品（第ⅣA、ⅤA、ⅥA的元素）与强还原剂作用，生成气态氢化物，被惰性气体带入原子化气中，在1000℃以下被原子化。 三、分光系统 一、物理干扰 (matrix interference) 二、电离干扰 (ionization interference) 三、化学干扰 (chemical interference) 抑制： 加入释放剂：释放剂与干扰组分形成更稳定的化合物，使被测元素从与干扰物形成的化合物中释放出来。 加入保护剂：保护剂与被测元素形成稳定的化合物，阻止干扰元素的作用，形成的化合物在原子化条件下又易于分解和原子化。 加入缓冲剂：将过量干扰物分别加入标准和试样中，使干扰恒定，基体一致化。 火焰气体的吸收： 火焰气体中含有许多未燃烧完全的分子或分子片段，它们在紫外区有很强的吸收，产生干扰。改变火焰种类和助燃比使之减小或用调零法加以消除。 2、校正 邻近线法 氘灯背景校正法 塞曼效应背景校正法 自吸收效应背景校正法 第五节 测量条件的选择 三、灯电流 在所选的电流下，光源能够提供足够强和稳定的入射谱线以提高信噪比和精确度、灵敏度。 在保证放电稳定和合适光强 输出的条件下，尽量用低电流。 四、原子化条件 五、样品的处理 取样具有代表性，防止污染 试剂纯度选择由用量决定 无机物放置聚乙烯瓶， 有机物放置玻璃瓶 六、试样量 火焰法 在保持燃气和助燃气一定比例和一定流量的条件下，测定吸光度随试样量的变化，达到最大吸光度的试样量为最佳量。 石墨炉法 由石墨管大小定。一般固体0.1~10mg, 液体1~50ul。 谱 线 变 宽 的 主 要 原 因 压力变宽(pressure broadening)： 在一定蒸汽压力下，因粒子间相互碰撞而引起。 原子吸收线轮廓上的任意各点都与相同的能级跃迁相联系。 实现峰值测量的条件： 发射线必须比吸收线窄得多（1/5）； 发射线中心频率与吸收线中心频率 一致，且有足够的强度； 有能发射与被测元素吸收线相应的 特征谱线的灯作为锐线光源。 二、原子化系统 低温原子化（化学反应） 2、氢化物发生法：易形成共价氢化物的样品（第ⅣA、ⅤA、ⅥA的元素）与强还原剂作用，生成气态氢化物，被惰性气体带入原子化气中，在1000℃以下被原子化。 测 量 条 件 的 选 择 四、原子化条件 第六节 分 析 方 法 2、标准加入法 本法能消除对不同浓度待测元素影响一致的基体干扰，但不能消除背景干扰。 3、内标法 在标准和试样中分别加入一定