X-荧光分析仪作业指导书.docVIP

山西省新绛威顿水泥有限责任公司 编号：WD/ZY-08-039 　 X-荧光分析仪作业指导书 拟制：毛鹏瑞 日期：2001.5.28 审核：郭辉光　　　　日期：2001.6.10 批准：支俊秉　　　　日期：2001.6.18 受控状态：　受 控　 分 发 号：　　　　　 持 有 者：　　　　　 2001年6月26日实施 内部资料　　不得外传 名称 X-荧光分析仪作业指导书 编号 WD/ZY-08-039 岗位 荧光分析仪 生效日期 2001.6.26 页数 第1页 共2页 质量 指标 KH±0.02　　SM±0.10　　IM±0.10 作 业 要 求 1、准备工作： 1.1、将电子天平清零（按Tare键） 1.2、检查勺子、刷子是否备齐 1.3、用湿布子将磨盘、磨辊、磨环、盘盖擦拭干净，晾干后待用 1.4、将钢环用湿布子擦拭干净，放入压片机上的凹槽内。 2、操作步骤： 2.1、准备称取搅拌均匀的生料9.000±0.002g，取出后倒入磨辊与磨环，及磨环与磨盘间，用刷子轻轻将磨辊及磨环上的料刷入磨盘内，盖好盘盖，放入振动磨内，压紧手柄，盖上箱盖，按下启动按钮，自动粉磨3min自动停机。 2.2、打箱盖，将手柄拉起，取出磨盘，用刷子将磨辊、磨环、磨盘及盘盖上的生料轻轻刷到一张干净的纸上。 2.3、在电子天平上准确称取粉磨后的生料7.000±0.002g，取出后倒入压片机上的钢环内，用勺子轻轻将钢环内的生料摊平，然后合上手柄，旋紧压头，使压头与钢环上表面紧密接触，按下启动按钮，活塞自动上升、加压，使料在18吨的压力下保压10S后，活塞自动下降，自动停机。 2.4、推开手柄，取出钢环，用吸尘器吸走钢环内部的残余粉尘及压片机凹槽内的粉尘，钢环上表面的粉尘用吸尘器轻轻吸掉。 2.5、在荧光仪程序系统中的XpertEase －Main Menu窗口下点击Single图标，在其弹出的Single sample Analysis窗口中点击F6键，在Select Meod 窗口中选择生料曲线RAMWIX-2，再点击OK键确认，回到Single sample Analysis窗口后，点击Measure键，在弹出的Sample Lakel窗口中，在Enter Sample Label横栏内输入样品名称，以月、日、时输入，输入完毕后点击OK键确认，荧化样品室的盖子自动打开。 2.6、将压制好的钢环放入钢环夹内，试样表面向下放入荧光仪的样品室内。 2.4、推开手柄，取出钢环，用吸尘器吸走钢环内部的残余粉尘及压片机凹槽内的粉尘，钢环上表面的粉尘用吸尘器轻轻吸掉。 2.5、在荧光仪程序系统中的XpertEase －Main Menu窗口下点击Single图标，在其弹出的Single sample Analysis窗口中点击F6键，在Select Meod 窗口中选择生料曲线RAMWIX-2，再点击OK键确认，回到Single sample Analysis窗口后，点击Measure键，在弹出的Sample Lakel窗口中，在Enter Sample Label横栏内输入样品名称，以月、日、时输入，输入完毕后点击OK键确认，荧化样品室的盖子自动打开。 2.6、将压制好的钢环放入钢环夹内，试样表面向下放入荧光仪的样品室内。 名称 X-荧光分析仪作业指导书 编号 WD/ZY-08-039 岗位 荧光分析仪 生效日期 2001.6.26 页数 第2页 共2页 作 业 要 求 2.7、在Load Sample窗口中，点击Yes键后，荧光仪样品室的盖子自动关闭，在Analysis Sample窗口下自动分析。 2.8、在荧光仪自动分析的同时，在QCX系统中双击 QCX Active Sample图标，在其弹出的QCX／Laboratory－Active Sample窗口中，若分析出磨生料，应在Sample points标栏下双击Kiln Feed图标，然后再双击XRF Analysis图标，使其颜色变绿。 2.9、待分析结束后，QCX系统自动弹出一个Aclept／Reject Eqnipment Function Data窗口，点击Aclept将分析数据接收，再在NewFeeder Set－ points窗口中点击OK键确认，使QCX系统接收数据后，自动调整原料配比。 ３、注意事项： 3.1、称取试样前要及时将天平清零。 3.2、生料称前要搅拌均匀，称取后要及时留样。 3.3、盘盖盖上时要上紧，不能左右滑动。 3.4、磨盘在振动磨中放置时，一定要放入振动磨内的凹槽中，手柄要压紧，防止振