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x光分析原理概论 一.前言 由于科技的进步，普通的化学分析法，因其费时费事，已渐渐不被使用。如今所追求的迅速且精确地分析方法。x光分析法是一种非破坏性，且应用范围较广，无论样品是液体、固体或粉体均能利用的。又能分析大部分的元素。其分析的浓度可精确至PPM。因此不论是生产化验或者是研究发展分析等化学试验都使用的。尤其是工厂的化验分析除了准确性外，更是要讲求时效，x光分析法可说是最佳的分析方法。 水泥厂一般的分析最主要有Si、Al、Fe、Ca、Mg、S等元素。微量方面有K,Na,Cl,P,Mn等较为主要。这些元素在x光分析法中均能分析的。一般使用传统式的化学分析法。只是分析Si、Al、Fe、Ca、Mg、S等较为主要元素，即需要1—2天时间才能完成。微量元素方面更是费时，有的只分析其中一种元素即需要1—2天时间。 但是以x光分析法，只需要数十分钟即可完成所有的分析步骤。因此以电脑调配生料时，一定要配合使用x光分析仪，迅速且精确的分析生料成分。再以电脑迅速计算所需要调配的配比，如此才能达到更精确调配生料的要求。 二.x光的性质 1.如同可见光一样，x光是电磁波的一种。其速度均为3.0*10m/sec。其主要的不同之处在于波长的不同，可见光波长较长，x光则波长较短。波长越短则所含能量愈高。 附图一：电磁波光谱 2.x光其行进路线为直线，不需经过中间介质。不受电场或磁场的影响。 3.x光可能被某些结晶所折射、偏光，此为Bragg′s定律。 4.x光可使底片感光，可使空气游离，称为游离辐射。 5.x光依其波长的长短，可被不同的物质 而有不同程度的吸收。 6.x光管所产生的x光（一次辐射），因能量的不同（即波长的不同），可使被照射物体产生特性x光（即二次射线，也称荧光射线）。 7.x光会破坏细胞，产生生理上的变化。 三.x光管及x光的产生 1895年德国人W.C.Routgen首先发现x光，后人也称为Routgen光。 附图二：x光管 由上图来看，此x光管又一阴极用来产生电子，又利用高电压的电场作用，使电子加速，让电子以很高的能量向阳极金属靶上撞击，受到靶的阻挡而减速时，就释放能量，于是产生x光。 运动中的电子，受靶的阻挡而释放能量时，有的电子一次就把所带的能量全部放尽。有的电子需反复经多次撞击才能把能量放完。因此在所产生的x光中，也含有各种不同的波长。一次就把能量全部放出的电子，所释放的能量最大，由此产生的x光，波长也最短。如果电子释放的能量较小，则产生的x光，波长也较长。因电子所释放的能量均有各种大小不同的数值，以致所产生的x光，也有各种不同的波长，我们称这种含有各种波长的x光谱为连续光谱。如附图三。图中当管电压（KV）逐渐升高时，x光的能量也逐渐升高，与最高能量相当的最短波长的x光也逐渐变短，输出x光也逐渐增多。亦即x光强度增加。 附图三：x光连续光谱及特性x光 如果保持管电压一定，只提高管电流（MA），则如下左图所示。 附图四：连续光谱性质 如果更换金属靶极为不同的元素，则如上右图所示。 x光管所产生的x光，有能量来看，则电子的能量只有不到其中1％转变成为x光。其他均变为热能，所以必须用冷却水以冷却阳极，且阳极的材质必须有严格的要求。 选择x光管则视所需要的x光能量，而选择其所用的金属靶极，及最大的管电压和管电流。 四.特性x光及其利用于x光分析法 当物质受到高能量的电子，x光或ｒ射线等照射时，则原子内层轨道的电子受到激励，而跳出轨道。造成内层轨道空虚。此时，较外层轨道的电子则跳入内层，同时放出能量，以x光形式放射出来。因原子内每一层轨道均有一定的能限 。当电子跳回低能 限的位置时，所产生的x光亦具有的轨道能限亦不同。所以这些x光的波长随元素而定，一定元素会产生一定波长的x光。我们称这些一定波长的x光为特性x光 x光分析法即是利用这些特性x光，来作元素的定性定量分析。又称为荧光分析法。 当试样受到x光管所放射出来的x光射线的照射。即产生其所含元素的特性x光。而有部分的特性x光经过准直器。而由分光结晶于特性的?角度中，将其中某一元素的特性x光与其他元素的特性x光分离的。再经过第二准直器而进入侦测器内，将x光转变为电脉冲或计数，可以表示入射x光的强度。 其第一准直器，分光结晶及为准直器均固定于一同心圆上，所以侦测器可以转动，以改变2?角度，而找寻不同反射?角的特性x光 在定性分析上，可转动侦测器，在特定的?角度上。可测定出特性x光的强度。则由此角度?依据Bra