X射线荧光光谱分析检出限问题的探讨与建议.pdfVIP

维普资讯 第22卷 第4期 岩 矿 测 试 Vo1．22，No．4 2003年 12月 R0CK AND MINERAL ANALYSIS December，2003 文章编号 ：0254—5357(2003)04—0291—06 X射线荧光光谱分析检 出限问题的探讨与建议 梁国立 ，邓赛文 ，吴晓军 ，甘 露 (国家地质实验测试 中心，北京 100037) 摘要：对有关x射线荧光光谱分析低含量元素的检 出限问题进行 了多方面的探讨。从检 出 隈的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不 同测量 、校准与校正方法 的检 出限及其相对应 的 相对标准偏差进行计算。提 出了以定义检 出限的相对标准偏差为基准，对各种测量方法计算 出 的检 出限进行重新界定，从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限。同时还讨论了仪器与 x光管固有杂质元素谱线对该元素检 出限的影响 ；测量仪器、测量条件与测量时间对检 出限的影 响；不同岩性试样对检 出限的影响；检 出限与测定限等 问题 。 关键词 ：x射线荧光光谱 ；检 出限；相对标准偏差 中图分类号 ：0657．34 文献标识码 ：A x射线荧光光谱 (XRF)分析具有分析速度快 ， 间对检 出限的影响；不 同岩性试样对检 出限的影 重现性好 、准确度高、分析范 围广 (包括元素及含 响；检 出限与测定限等问题 。 量)，试样制备简便，测量不损坏试样 ，以及对环境 无污染等优点 ，已广泛应用于地质 ¨2J、矿 山、冶 1 检出限不同算法及其相对标准偏差 金 、建材 、环境保护 j、考古和商检等各个领域的 1。1 检出限的定义 科研与例行品质检验。然而，有关低含量元素分析 根据 IUPAC分光化学分析分会 1976年所采 的检出限 问题 ，在实际应用中仍存在着不确切 纳 (Kaiser1947)的检出限定义 ：把获得空 白值标准 的、“简单化”套用的现象 ，给测定下限的界定 留下 偏差3倍所对应的含量规定为检 出限。x射线荧 了许多不可靠因素。 光分析检 出限的表达式为 ： 本文就有关 XRF低含量元素分析的检出限问 题进行了多方面的探讨。即就检出限的定义，及其 s。= 定义下的相对标准偏差；不同测量情况的检 出限及 C一检出限 (峭 ·g )；m一灵敏度 [cps／(g · 其相对标准偏差 ；存在谱线重叠干扰扣除的检出限 g一)]；So一空白值标准偏差(即~／，0／f)；，0一空白 及其相对标准偏差 ；采用 内标校正的检出限及其相 试样的计数率 ；f一空 白试样的测量时间(S)。 对标准偏差等进行讨论 ，提出了以国际纯粹与应用 x射线的产生与探测都是随机的，当 x光子 化学联合会 (IUPAC)分光化学分析分会 1976年采 累计数大于 100的情况下，其分布近于正态分布 ， 纳的检 出限定义相对应的相对标准偏差为基准 ，对 测定空 白试样强度 (背景强度 )标准偏差 3倍 以上 各种测量 、校准和校正方法计算出的检出限重新进 的峰值净强度时，就可以说能够 以99．73％的置信 行界定 (校正)，力求确定具有可 比性的、精度一致