X射线荧光分析仪(SEA1000A).pdfVIP

上海市漕寶路 86 號 F 座 1804 室 (光大會展中心) TEL:21/ FAX: Seiko SEA1000A 系列 XRF 在分析塑料中有害重金属的优势 近年来，以欧洲为中心，为了环境保护而提高了对有害物质的检测标准，订定了废 电器电子机器再利用指令(WEEE)及特定有害物质的使用限制指令(RoHS)等，对于环境及 材料中重金属的管制都有明文的规定与共识。日本精工Seiko针对塑料高分子中Cd、Pb 等有害重金属分析，特别所设计了全新的机型之 SEA1000A 系列 ED-XRF，无需液态氮的 成本、无需增加工作量的分析装置，可以省去繁琐的样品检测前处理时间，以提供更简 便、迅速的分析工具。兹将 Seiko SEA1000A 系列 XRF 在分析塑料中有害重金属的优势 做一详细说明如下： A. 仪器硬件： 1. 针对塑料中有害重金属设计之 X 射线萤光分析仪。 2. 元素分析范围可从硫(S16)~铀(U92)，除可分析有害金属外，亦可用于材料检测及 鉴定，例如：组成分析、贵重金属回收等 3. 配置了特别对于有害物质有高灵敏度效果的检测器，实现了世界最高水准的 Cd 的 TechMax Technical 检测灵敏度為 1.2ppm 的水准。 ⊙左图是聚乙烯中镉 5.8ppm 的波形 由于使测定样品和检测器之间的距离达到 最短，所以能检测出效率好的萤光 X 射线， 实现了高灵敏度的测定。 4. 搭配三套可电脑自动控制切换的一次滤波器(Primary Filter)。藉由一次滤波器之 选择，可以降低各测定元素的 X 射线的背景，调整出最具感度之辐射，不光只是塑 胶，在测定金属上也具有高灵敏度的测定，使分析侦测浓度更低。 5. 采用新式小型电冷式之 X 光管，可做低电压(15 kV)到高电压(50kV)多段自动控制。 No. XRF000017 肯邁 Copyright © 2005 TechMax Technical Co., Ltd. All rights reserved. 1 上海市漕寶路 86 號 F 座 1804 室 (光大會展中心) TEL:21/ FAX: 6. 采用目前先进的矽半导体侦测器。无需液态氮的成本，更加方便。 7. 具备 370mm(宽)x320mm(深) x155mm(高)的大型样品室，比 A4 尺寸小的手提电脑也 可以直接放入样品室进行测定，不用损坏样品，即可针对各种尺寸样品进行直接量 测，增加分析上的弹性及方便性。 8. 配备有 CCD监视器，监测样品分析位置，可将样品做局部放大，作准确定位及分析， 同时能将分析点之影像纪录储存，连同测试报告一起输出，方便测试资料结果之管 理。 ⊙左图是红色被覆电线的观察图像 由于安装了 CCD 照像机、所以可以一边进行观察 样品,一边测定任何部分，并且、X 射线的照射