X荧光光谱仪EDX4500H.docVIP

X荧光光谱仪EDX4500H EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。 性能特点 高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平 最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然 技术参数 产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 同时分析元素：一次性可测几十种元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性） 测量时间：30秒-200秒 探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15-30℃ 环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg 标准配置 高效超薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术信噪比增强器 SNE光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵 应用领域铜合金、铁合金磁铁矿、赤铁矿、褐铁矿、菱铁矿产品联系方式 天瑞仪器 江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园。 文安东 江苏天瑞仪器:------我们以最专业的态度去做我们最擅长的事！ 相信天瑞！ 选择天瑞！