X射线荧光光谱法分析锰矿的基体效应校正方法.docVIP

X射线荧光光谱法分析锰矿的基体效应校正方法 王谦 朱丽辉 林力 （宁波出入境检验检疫局，宁波，315012） 实验.1 仪器 SRS30型顺序式X射线荧光光谱仪，铑靶X光管，功率4kW，德国Bruker公司制造。 ISP4×4半自动熔样炉，澳大利亚ISP公司制造。 2.2 试剂和试样 Li2B4O7，X射线荧光光谱分析专用试剂，650℃灼烧1h ； LiBr溶液，30g/L ； 锰矿试样，研磨通过100目，105℃烘2h。 2.3 制样 称取0.5g试样和5 g Li2B4O7熔剂，加1mL的LiBr溶液，在电炉上烘干10min，然后在1100℃的熔样炉中熔融10min，并直接在坩埚中成形。 2.4 分析方法 2.4.1测量条件 表 1 分析元素的测量条件 Table.1 Measuring Condition 元素 Element 谱线 Line 电压V(kV) 电流I(mA) 准直器(°) 晶体 Crystal 计数器 Detector 测量时间Measuring time(s) 干扰谱线 Line overlap Mg Kα1 30 100 0.46 OVO55 FC 30 Al Kα1 30 100 0.46 PET FC 20 Si Kα1 30 100 0.46 InSb FC 20 P Kα1 30 100 0.46 Ge FC 30 S Kα1 30 100 0.46 Ge FC 30 K Kα1 50 60 0.46 LiF200 FC 30 Ca Kα1 50 60 0.46 LiF200 FC 30 Ti Kα1 50 60 0.15 LiF200 FC 30 Ba Lα1 Mn Kα1 50 60 0.15 LiF200 FC 20 Fe Kα1 60 50 0.15 LiF200 FC+SC 20 Mn Kβ Ni Kα1 60 50 0.15 LiF200 FC+SC 30 Cu Kα1 60 50 0.15 LiF200 FC+SC 30 Zn Kα1 60 50 0.15 LiF200 FC+SC 30 Ba Lα1 50 60 0.46 LiF200 FC 30 Ti Kα 2.4.2 工作曲线的绘制 选用4个国家级标样和4个行业级标样绘制校准曲线，标样按2.3的制样方法制备。 按公式1进行校准曲线的回归、基体效应校正和谱线重叠干扰校正： Ci=s×（Ii+∑βik×Ik）×（1＋∑αij×Cj）＋bCj是测量元素和影响元素的浓度；s、b是校准曲线的斜率和截距；Ii是测量元素的X射线荧光强度；αij 、βik是理论α影响系数和谱线重叠校正系数；Ik是重叠谱线的理论计算强度。 3 结果和讨论 文献[2]采用Lachance-Trail经验影响系数校正模式校正元素间的吸收增强效应，校正后Mn的校准曲线的标准偏差为0.203%，而对于Mn这种常量元素而言，其允许误差一般为0.3%，也就是说Mn的校准曲线的标准偏差必须小于0.15%。 理论α影响系数校正方法有一定的物理意义，校正结果较经验影响系数校正方法可靠，但要计算出比较准确的理论α影响系数，其前提是样品中的所有组分都必须描述清楚，X射线荧光光谱分析专用的Spectra Plus软件要求，只有当样品中的合量大于95%，理论α影响系数才是可靠的。 而锰矿的组成比较复杂，锰矿标样只列出了Mn的含量，锰矿中的Mn主要以MnO2或MnCO3存在，如果以MnO2计算，样品中MnO2、Fe2O3、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、K2O、CaO、TiO2、NiO、CuO、ZnO、BaO等14个成分的合量为91%~96%，而锰矿是烧失量为约12～15％。所以要准确定义熔融玻璃片的组成，就要清楚锰矿在熔融过程中的反应。 3.1烧失量 在熔融制样X射线荧光光谱分析技术中，有2种获得烧失量的方法，方法A：将样品单独灼烧，然后算出烧失量；方法B：样品和熔剂一起灼烧，在熔融过程中获得烧失量。表2列出了锰矿样品的2种烧失量测量结果，可以看出它们的结果有较大差异，且差值不稳定。 表2 锰矿烧失量 Table2 L.O.I WB/10-2 编号No. 样品Sample Mn含量 Mn Content 方法A Method A 方法B Method B 1 GBW07261 45.39 12.56 16.59 2 GBW07262 36.99 14.04 16.59 3 GBW07263 32.54 13.79 15.60 4 GBW07264 25 13.93 15.39 5 GEMCO-C 49.65 13.01 16.74 6 GEMCO-D 44.57 12.29 15.46