安全检测第十一节课.pptVIP

粉尘浓度检测 ④无动力等速粉尘采样器 无动力等速粉尘采样器是一种直接测量烟囱或一般含尘管道粉尘排放量的仪器，它利用采样器的特殊结构和气流本身提供的动力实现等速采样。从右图可以看出，当采样器对准气流时，一方面气流的动能迫使气体通过管道进入采样器，另一方面气流在流经采样器锥形尾翼时，产生一定的抽力，以克服气流通过采样器的阻力，在两种力联合作用下达到等速采样的要求。粉尘捕集采用静电沉降方法，含尘气流进入管内后，粉尘即荷电，并沉降在作为收集板的管壁上，根据收集的尘量、采样时间、采样嘴直径和测点断面管道直径即可计算粉尘排放量。整个采样器由采样头和电源两部分组成。采样头由管嘴、电晕放电极、粉尘沉降极、流量调节装置等部件组成。 无动力等速采样器结构图 1－电晕极 2－沉降极 3－管嘴 4－流量调节装置 5－电晕极支座 6－支架 7－电源 粉尘的游离二氧化硅检测 粉尘的化学成分决定其对机体危害的性质和程度。其中，游离状态的二氧化硅含量影响尤为严重。长期大量吸入含结晶型游离二氧化硅的粉尘将引起矽肺病。粉尘中游离二氧化硅的含量愈高，引起病变的程度愈重，病变的发展速度愈快。这里将对粉尘的游离二氧化硅检测做简要的介绍。 粉尘的游离二氧化硅检测 测定粉尘中的游离二氧化硅有化学法和物理法。化学法采用磷酸重量法和硷熔钼蓝比色法。其中焦磷酸重量法国内应用普遍，其优点是适用范围广、可靠性较好，缺点是操作程序繁琐、花费时间。硷熔钼蓝比色法灵敏度较高，但应用范围有一定局限性。物理法如x射线衍射法和红外分光光度法。物理法不改变被分析样品的化学状态，需要的样品量很少，分析资料可以保存在图谱上，常用于定性鉴别化合物的种类，用于定量测定则有一定的局限性。 粉尘的游离二氧化硅检测 1. 焦磷酸重量法 一定量的粉尘样品经焦磷酸在245~250℃处理后，其中的硅酸盐等杂质完全溶解，而游离二氧化硅则几乎不溶。因此，称量处理后的残渣重量，可以推算出游离二氧化硅的含量。 粉尘的游离二氧化硅检测 2. 硷熔钼蓝比色法 在800~900 ℃的温度下，碳酸氢钠和氯化钠混合熔剂与硅酸盐不发生作用，而选择性地熔融游离二氧化硅，生成可熔性的硅酸钠，在酸性介质中，硅酸钠与钼酸铵可形成络合物质，它遇到还原剂时将被还原成钼蓝，根据颜色深浅进行比色测定。 粉尘的游离二氧化硅检测 3. X射线衍射法 X射线在通过晶体时产生衍射现象。用照相法或X射线探测器可记录产生的衍射花纹。由于每种晶体化合物都有其特异的衍线图样，因此，只要将被测试样的衍射图样与已知的各种试样的衍射图谱相对照，就可以定性地鉴定出晶体化合物的种类；而根据衍射图样的强度就可以定量测定试样中晶体化合物的含量。 粉尘的游离二氧化硅检测 衍射图样的定性鉴定主要凭经验，可以根据纯晶体化合物的标准衍射图谱对照鉴别。对于定量测定，在试样组成简单的情况下，只需在同一条件下将未知试样与含量已知的样品中特定的衍射线的强度作比较即可定量；对组成复杂的样品，则需要根据积分强度的概念，用解方程式的办法计算。 粉尘的游离二氧化硅检测 粉末照相机呈圆筒形，如下图（a）所示。由X射线管发射的X射线束，透过滤光片后成为近乎单色的辐射束，通过细管准直，照射到样品晶体上。其中一部分X辐射被晶体中的原子散射。粉末中所有与入射线的夹角为?（该角决定于晶体的种类）的晶面散射光束，在空间可连接成一个以入射线方向为轴，夹角为4?的圆锥面。其它一定角度的散射可由其他方位的晶体产生。未被散射的辐射，通过出射细管射出照相机。散射线投射在衬有底片的相机内壁上，从而得出一对对的对称弧线组成的图样，如下图（b）所示。 粉尘的游离二氧化硅检测 照相法示意图 （a）粉末照相机 （b）显影底片条 、和T指底片在照相机中的位置 1－x射线管 2－滤光片 3照相软片 4－样品 5－透射光束 6－衍射光束 7－照相软片上供入射和出射管用小孔 粉尘的游离二氧化硅检测 4.红外分光光度法（比色法） 红外分光光度法可用于样品的化学成分的分析和分子结构的研究。样品可以是无机物也可以是有机物。可以是气态、液态、固态或者溶液。 当具有连续波长的红光照射物质时，该物质的分子选择性地吸收某几种波长的光，若将其透过的光进行色散，就得到一吸收光谱。 每种化合物都有自己独特的光谱图，将未知试样的光谱图与若干纯化合物的标准谱图对照就能定性鉴别；而吸收峰的强度则决定于该化合物的含量，借此可进行定量分析。 粉尘的游离二氧化硅检测 对于组分数目不多，且其光谱形