超声波探伤仪时基线和灵敏度的调整_续_.pdfVIP

无损检测 标 准 化 EN 583 - 2 :2001 超声波探伤仪时基线和灵敏度的调整( 续) Nondestructive Testing 　　Ultrasonic Examination Part 2 : Sensitivity and Range Setting( Continuation) 　　中图分类号 : T G115 . 28 　　　文献标识码 :C 　　　文章编号 (2005) 09049 107 6 . 4 　距离增益大小法 6 . 4 . 1 　概述 ( ) 距离增益大小 D GS 法是利用理论上推导出 的圆盘形反射体的 DA C 曲线 ,来评价未知反射体 回波高度的。 在通用 D GS 图中 ,距离和反射体尺寸要标准 ( ) 化 。因而 ,此图与探头 压电元件 尺寸和频率无关 。 它将距离表示为探头近声场长度 N eff 的倍数 ,而将 反射体尺寸表示为探头压 电元件直径 Deff 的倍数 ( 图 10 和附录 D) 。 图 11 　斜探头专用 D GS 图 用 D GS 法调整探伤灵敏度或记录回波高度时 , 应使用附录 B 规定的参考试块 。目的是将 D GS 图 所示增益值与相应参考反射体的回波高度联系起 来 。校准试块有时也可作参考试块用 。 斜探头的参考试块尺寸应足够大 , 以便用双探 头 V 形反射法测量传输损失 。参考试块的所有检 测面应有相同的粗糙度 。 ( 可借助于圆弧面反射 如 1 号校准试块或 2 号 图 10 　通用 D GS 图 ) 校准试块 ,用 D GS 法校准灵敏度 ,只要已知探头对 Δ Δ 由此通用 D GS 图 ,可对常用探头型式导出钢的 这些试块的校正系数 Vk 。由此 Vk 可对圆弧面 Δ 专用 D GS 图。借此 ,不用计算就能直读出当量反射 与平底面之间的声能反射差进行补偿 。若 Vk 符 ( ) 体的尺寸 图 11 。 Δ