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六、样品制备技术 1. 对试样的要求 (1) 试样应该是单一组分的纯物质，纯度应98%，便于与纯化合物的标准进行对照。多组分试样应在测定前尽量预先用分馏、萃取、重结晶、区域熔融或色谱法进行分离提纯。 (2) 试样中不应含有游离水。水本身有红外吸收，会严重干扰样品谱，而且还会侵蚀吸收池的盐窗。 (3) 试样的浓度和测试厚度应选择适当，以使光谱图中的大多数吸收峰的透射比处于10%~80%范围内。 * 《红外光谱 》 * 六、样品制备技术 2.制样方法 (1) 固体样品的制备 a.压片法: 将1~2mg固体试样与200mg纯KBr研细混合，研磨到粒度小于2μm，在油压机上压成透明薄片，即可用于测定。 b.糊状法: 研细的固体粉末和石蜡油调成糊状，涂在两盐窗上，进行测试。此法可消除水峰的干扰。液体石蜡本身有红外吸收，此法不能用来研究饱和烷烃的红外吸收。 * 《红外光谱 》 * 六、样品制备技术 (2) 液体样品的制备 a.? 液膜法: 对沸点较高的液体，直接滴在两块盐片之间，形成没有气泡的毛细厚度液膜，然后用夹具固定，放入仪器光路中进行测试。 b. 液体吸收池法: 对于低沸点液体样品和定量分析，要用固定密封液体池。制样时液体池倾斜放置，样品从下口注入，直至液体被充满为止，用聚四氟乙烯塞子依次堵塞池的入口和出口，进行测试。 (3) 气态样品的制备:气态样品一般都灌注于气体池内进行测试。 * 《红外光谱 》 * 六、样品制备技术 (4)特殊样品的制备—薄膜法: a. 熔融法: 对熔点低，在熔融时不发生分解、升华和其它化学变化的物质，用熔融法制备。可将样品直接用红外灯或电吹风加热熔融后涂制成膜。 b. 热压成膜法: 对于某些聚合物可把它们放在两块具有抛光面的金属块间加热，样品熔融后立即用油压机加压，冷却后揭下薄膜夹在夹具中直接测试。 c. 溶液制膜法: 将试样溶解在低沸点的易挥发溶剂中，涂在盐片上，待溶剂挥发后成膜来测定。如果溶剂和样品不溶于水，使它们在水面上成膜也是可行的。比水重的溶剂在汞表面成膜。 课后作业 阅读教材26-46页 * * * 第三章 红外光谱（INFRARED SPECTRoscoAPY） 一、红外谱图解析三要素1 峰的位置 K：键力常数 u: 折合质量 u=m1*m2/(m1+m2) m1,m2分别为两键接原子的相对原子质量 2 峰的强度 *红外吸收谱带的强度与分子数有关，也与分子运动所引起的偶极矩大小：偶极矩变化越大，吸收强度越大。 *一般分子或基团极性越大其吸收峰越强：C=O、NH2、Si-O、C-Cl、C-F等吸收强度较大，C=C、C=N、C-C、C-H等吸收强度较小。 3 峰的形状 峰形状是分子内及分子间相互作用及仪器分辨率等多种因素共同作用的结果。 从峰的形状也可以得到有关基团的一些信息，比如：基团中有氢健和离子存在时，其吸收峰会加宽，这对鉴定特殊基团的存在很有用。 谱带形状还包括谱带是否有裂分，可用以研究分子中是否存在缔合以及分子的对称性，旋光异构，互变异构等。 二、基团特征频率 人们分析大量红外谱图后发现：具有相同化学键或官能团的一系列化合物有近似相同的吸收频率，这种频率就称为基团特征频率。 红外光谱中各种化学键的特征频率 光谱区段（cm-1） 引起各种吸收的基团 4000—3000 O-H，N-H 3300—2700 C-H 2500—1900 C ，N，O叁键，共轭双键 1900—1650 -C=O，Ar-H弯曲的倍频及合频 1675—1500 Ar环，C=C，C=N-伸缩 1500—1300 C-H 面内弯曲 1300—1000 C-O，C-F，C-C，Si-O伸缩 1000—650 C-H面外弯曲，C-Cl伸缩 指纹区与官能团区 指纹区：1300cm-1，谱带数目多，很难说明其归属，常用于区分结构相近的同系物，犹如人的指纹，故称为指纹区。 官能团区：1300cm-1-4000cm-1，基团与频率对应关系明确。 三、影响基团特征频率的因素 同一基团的某种振动方式，若处于不同的分子和外界环境中，其键力常数是不同的，因此，他们的特征频率也会有差异。 内部因素 外部因素 内