激光粒度粒形分析仪的使用.pdfVIP

DIPA2000i 激光粒度粒形分析仪 DIPA 2000i 概念 • 双测量通道的最佳选择 • 采用独特的激光光阻法进行快速准确 的粒径测量 眼见 • 采用复杂的动态图像分析法，精确地 为实 分析颗粒粒形 • 测量结果直接且仅取决于颗粒大小 • 测量结果不受颗粒或介质的物理和光 学性质影响 不受颗粒或介质的物理性能和光学性能影响，完全独立 不受颗粒或介质的物理性能和光学性能影响，完全独立 DIPA 2000i 系列特点 • 粒度范围：0.1-5000 微米 激光通道 - 高分辨率及精度: • 能分析粒度，粒形与浓度 • 测量结果直接与颗粒大小相关，而非 DIPA 2000i采用激光光阻技术，不需要任何假设或样品特性， 可直接测定微粒的粒度分布（ 0.1 - 3600微米）。 推算出来 这种独特的分析技术，被称为“Laser Obscuration Time”激光光 • 无需了解样品的折射指数 阻技术（LOT ）。 • 能分析半透明和透明的样品 LOT与其他激光衍射技术相比的主要优势是其较高的分辨率， 通过对小范围的检测从而得到更好的测量精度。 激光和图像通道的结合 使用 LOT技术主要好处是，即使有任何其他颗粒或介质的物理 或化学性质影响，仍得到可靠地测量结果。 •• 独特地结合了激光光阻法和复杂的动 配套的先进软件，通过分析计算复杂的多脉冲信号光阻时间， 态粒形图像分析技术 可在几秒钟内得到清楚和精确的颗粒分布测量结果。 • 对球形、非球形及延长颗粒的精确分 DIPA 2000i实时可视化采样，有效地让用户可以轻松地监测样 析定性 品准备过程或受污染情况，同时也为了避免样品无关的或不必 • 可同时测量粒径、形状和浓度 要的组分影响分析结果。 • 多种样品池和光学元件配置可满足不 同类型的干法及湿法检测需求 • 测量过程中可实时观察样品颗粒图像 DIPA2000i激光粒度粒形分