二次电子发射对质子束流测量精度的影响分析.pdfVIP

科技信息 二次电子发射对质子束流测量精度的影响分析 王海娃 摘 要：由于法拉第探测器所测量的质子束流精度受到二次电子发射的严重印象，因此必须降低成是彻底解决二次电子发射带来 的影响，从而提升束流测量精度。依据二次电子的相关补偿原理设计出二次电子补偿模型的同轴探测器，通过实验发现法拉第探测器 在测量质子束流的强度过程中难以完成二次电子补偿。为了能够有效改进与创新法拉第探测器的设计，在理论方面分析二次电子造成 的束流测量精度的影响。 关键词：二次电子发射 质子束流 高能质子 高能质子等相关重带电粒子在轰击金属表面过程中会形成 个表面和收集极的表面全存在二次电子发射。因为两层金属材料 二次电子发射，目前在二次电子相关发射机理与能源分布以及发 与表面的状态相同，所以二次电子的发射比例系数△也是相同 。 射角分布等方面有一定研究，其中二次电子发射已经运用在许多 对此，收集极的表面与沿着质子出射方方向中的金属箔表面形成 方面，比如运用材料二次的电子发射特