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单轴晶体折射率测量 王文瀚12S011029 1 单轴晶体广泛应用于光电工程中，在设计和制作光学元件和光电器件时，必须确定晶体的重要参数——折射率。目前，关于测量晶体折射率的方法有很多，如最小偏向角法、V型棱镜法、激光干涉法，但这些方法对样品和光轴都有一定的要求。最小偏向角法虽然测量精度高，但需将样品加工成三棱镜，顶角的塔差要足够小；V型棱镜法所需样品较大，而且所用测量棱镜的折射率必须大于待测样品的折射率；激光干涉法要求样品为较厚的平行平板，这种方法的测量精度与样品厚度有关，样品越厚，精度越高。采用上述方法的前提是需要预先知道晶体的光轴，其测量精度与加工样品密切相关，这对某些材料来说代价昂贵；其次，测量方法、仪器比较复杂。布儒斯特角法是测量单轴晶体折射率的一种简单方法，这种方法在光轴不确定的情况下，能同时给出单轴晶体的折射率和光轴方向。 本文首先简单介绍传统折射率测量方法基本原理，着重介绍布儒斯特角法测定单轴晶体的折射率。 2 传统的折射率测量方法简介 2.1 最小偏向角法 (2.1) 图1 通过棱镜的光路 该法的优点为：精度最高，不需要己知折射率的标准块，折射率的测量范围不受限制，不需折射液；其缺点是：需要大口径的棱镜，制备被测棱镜既费时又费光学材料，测量时测角仪的调整较复杂，测量最小偏向角的手续繁多，因而测量工作相当繁重。 2.2 V型棱镜法?槽中，如图2。光线通过V棱镜和试样的组合体后产生偏向角，便可由下式算出试样折射率。 (2.2) n为待测样品折射率,n0为V棱镜折射率。nn0时取正号；nn0时取负号。 图2 V棱镜测量原理图 (a) nn0 (b) nn0?，就相当于V形槽内还附加一个折射液的光契。 2.3 激光干涉法 若相应移动N个条纹，则应有 (2.3) 由此可测介质折射率n。 图3 迈克尔逊干涉仪的构造和光路图法 (2.4) θ为沿该方向入射光的波矢与光轴方向的夹角。一般光轴并不在样品表面上，而与表面法线方向有一定的夹角，设为ξ，则折射角满足φ = ξ + θ。因此，该方向的折射率可以写做： (2.5) 一束线偏振光自空气中以入射角θi入射至晶体表面上，其电场矢量平行于入射面，当光轴不在入射面内时，就会出现双折射，因此不存在使反射光强度为零的入射角；当晶体绕表面法线转动，使光轴在入射面内时，折射光为e光，若入射角为相应的布儒斯特角θb时，反射光的强度为零，θb满足以下关系： (2.6) 这时，折射角φ = ξ + θ = 90? - θb，代入前式可得： (2.7) 对样品的三个独立的表面(分别用下标1、2、3表示)都有类似于上式的表达式，则可列出如下3个方程： (2.8) (2.9) (2.10) 其中，θb1、θb2和θb3分别为三个表面上相应的布儒斯特角，可由实验测得；ξ1、ξ2和ξ3分别为光轴与三个表面的法线的夹角。因此，由以上3式计算可得晶体的主折射率和光轴的方向。 用布儒斯特角测量晶体的折射率，虽然精度不算高，但不需要复杂的仪器设备，对样品也无要求。该方法特别适合于测量光轴方向不确定的不透明或者半透明晶体的折射率。 -3-