4-2测试超声波探伤仪的性能.doc

【课题】测试超声波探伤仪的性能 【课时】6课时（270min） 【设计思路】本次课通过学生测试超声波探伤仪的性能使学生掌握超声波探伤仪的使用。 【设计亮点】采用做中学和学中做的方式使学生掌握仪器的使用。 【教学目标】 1.知识目标：使学生掌握超声波探伤仪的使用。 2.能力目标：学生具备测试超声波探伤仪性能的能力。 3.情感目标：通过实践，让学生体验的喜悦，养成规范的操作习惯和的工作作风①直探头 发射和吸收纵波。 ②斜探头 发躰和吸收横波。 ③水浸聚焦探头 ④双晶探头 (2)探头的主要参数 ①折射角γ或探头K值； ②前沿长度 ③声轴偏离角 (3)探头型号 表8-1 2.超声波探伤仪 (1)分类 (2)A型脉冲反射式超声波探伤仪 (3)探伤仪的性能 ①水平线性（时基线性或扫描线性） 指扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比程度。关系到定位。 ②垂直线性（放大线性） 指示波屏反射波幅与接收信号电压成正比关系的程度，关系到缺陷定量的准确性。 ③动态范围 示波屏上回波高度从满足100%降至消失时仪器衰减器的变化范围，其值越大，可检出缺陷愈小。用分贝（dB值）表示。 为正表示增益，为负表示衰减。 ④灵敏度余量 在规定条件下探伤灵敏度至仪器最大灵敏度的富裕量。 ⑤分辨力 区分两相邻而不连续缺陷的能力。 ⑥电噪声电平 ⑦盲区 在规定探伤灵敏度下，从探伤面至能没出缺陷的最小距离。 3.试块 (1)标准试块 (2)对比试块（参考试块） （二）性能测试 1.使用直探头进行深度1：1调节。 2.使用斜探头进行探头前沿长度、K值的测定，并按深度1：1或水平1：1调节仪器。 3.水平线性的测试 （1）调节相关旋钮，使时基线清晰明亮，并与水平刻度线重合。 （2）将探头置于CSK-ⅠA或ⅡW试块上，如图4-1所示。 （3）调“微调”、“水平”或“脉冲移位”等旋钮，使荧光屏上出现五次底波B1～B5，且使B1、B5前沿分别对准水平刻度值2.0和10.0，如图4-2所示。 （4）观察记录B２、B３、B４ 式中　amax—a2、a3、a4中最大者； 　　　b—荧光屏水平满刻度值。 JB/T4730.3-2005标准规定仪器水平线性误差不大于1%。 4.垂直线性的测试 （1）“抑制”调至0，保留30dB衰减余量。 （2）将探头置于CSK-ⅠA或ⅡW试块上，如图4-1所示,并恒定压力。 （3）调“增益”使底波达荧光屏满幅度100%，但不饱和，作为0dB。 （4）固定“增益”，调“衰减器”，每次衰减2dB，并记下相应回波高度Hi填入表中，直至消失。 表中：实测相对波高％＝ 理想相对波高 （5）计算垂直线性误差 D=（|d1|+|d2|）％ 式中　d1—实测值与理想值的最大正偏差； 　　　d2—实测值与理想值的最大负偏差。 JB/T4730.3-2005标准规定仪器垂直线性误差不大于5%。 5.动态范围的测试 （1）“抑制”调至0,“衰减器”保留30dB。 （2）将探头置于图4-1A处，调“增益”使底波B１达满幅度100%。 （3）固定“增益”，记录此时衰减余量N1,调“衰减器”使底波B1降至1mm高度，记录这时的衰减余量N2。 （3）计算动态范围　　　　 JB/T4730.3-2005标准规定仪器动态范围不小于26dB。 6.盲区的测试 盲区的精确测试应在专用的盲区试块上进行，但盲区试块加工困难，通常利用CSK-ⅠA或ⅡW试块来估计盲区的范围。 （1）“抑制”调到0，其他旋钮位置适当。 （2）将直探头置于图4-3所示的Ⅰ、Ⅱ处。 （3）调节“增益”、“水平”等旋钮，观察始波后有无独立的回波。 （4）盲区范围估计 探头置于Ⅰ处有独立回波，盲区小于5mm； 探头置于Ⅰ处无独立回波，于Ⅱ处有独立回波，盲区在5～10mm之间； 探头置于Ⅱ处无独立回波，盲区大于10mm。 一般规定仪器盲区不大于7mm。 7.分辨力的测定（直探头） （1）“抑制”调至0,其他旋钮位置适当。 （2）将探头置于图4-3Ⅲ处，前后左右移动探头，使荧光屏上出现声程为85、91、100的三个反射波A、B、C，如图4-4。 （3）调节探头，使A、B等高，记录此时衰减余量N1,调“衰减器”使b升到a，记录这时的衰减余量N2。 （4）计算分辨力　　　　F= N1- N2（dB） JB/T4730.3-2005标准规定仪器直探头远场分辨力应不小于30dB。 8. 分辨力的测定（斜探头） （1）“抑制”调至0,其他旋钮位置适当。 （2）将探头置于图4-5a所示的CSK-ⅠA试块上，对准Ф50、Ф44、Ф４0三阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。 （3）平行移动探头并调节仪器，使Ф50、Ф44回波等高，其波峰为h1如图4-5b所示, 记录此时衰减余量N1,调“衰减器”使h2升到h1，记录这时的衰减余量N2