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胡为东系列文章之八 USB 3.0 一致性测试方法 美国力科公司 胡为东 摘要：在 2008 年 11 月，HP 、Intel、微软、NEC 、ST-NXP 、TI 联合起来正式发布了 USB3.0 的V1.0 规范。USB3.0 又称为SuperSpeed USB，比特率高达5Gbps，相比目前USB2.0 的480Mbps 的速率，提高了10倍以上。Intel 的芯片组也将很快全面支持USB3.0 接口。USB3.0 和 USB2.0 相比有着非常本质的区别，USB3.0 有两对高速差分线分别进行信号的发送和接 收，为全双工工作模式，且使用了多种高速处理技术，如均衡、预加重等，对此进行全面的 物理层一致性测试是非常重要的，USB3.0 规范要求进行多个项目的测试，如发送端测试、 接收端测试、线缆测试等，因此需要多种仪器进行测试。力科为USB3.0 的测试提供了非常 领先完整的解决方案。 关键词： 力科 接收端 USB 3.0 一致性测试 一、USB 3.0 高速线缆性能测试 1、USB3.0 高速线缆及规范要求介绍 为了高速传输信号，USB3.0 采用了全双工的通信方法，由两对高速差分线来进行发送 数据和接收数据的传输，而USB2.0 采用的是半双工通信的方法，只有一对差分线进行发送 和接收数据的传输。USB3.0 的线缆和横截面图如下图1 所示。为了确保USB 3.0 的高速线 缆具有良好的信号完整性，确保能高质量传输5Gbps 速率的信号，USB 3.0 规范对其线缆特 性做了特别的要求。如： 图1 USB3.0 线缆及其横截面 规范的5.6.1.1.1 规定了高速屏蔽线缆的特征阻抗为：90 ohms +/- 7ohms (使用快沿上升 时间为200ps （10%-90% ）的TDR 进行测量) 。 规范的5.6.1.1.2 规定了高速屏蔽线缆对内的两条线缆之间的偏移要小于：15ps/m (使用 快沿上升时间为200ps （10%-90% ）的TDT 进行测量) 。 规范的5.6.1.2 规定了高速连接器的阻抗变化范围为90 ohms +/- 15 ohms (使用快沿上升 时间为50ps （20%-80%）的TDR 进行测量) 。 规范的5.6.1.3.1 规定了高速屏蔽线缆不同频率下的差分插入损耗SDD12。 规范的5.6.1.3.2 规定了高速差分对之间的近端串扰（Near-End Crosstalk ）。 规范的5.6.1.3.3 规定了高速差分对内两条信号之间的串扰，包括近端串扰和远端串扰 （Near-End/Far-End Crosstalk ）。 规范的5.6.1.3.4 规定了高速差分对的差模和共模转换比（Differential-to-Common Mode-Coversion ）。 规范对高速线缆的主要要求均是由S 参数来表示的，如下图2 中的曲线所示： 图2 USB3.0 线缆的各项参数特性曲线 2 、测试仪器及测试方法 SPARQ-S parameters,Qucik，是力科推出的主要用于高速信号的信号完整性领域的高性 价比的S 参数测试仪，可实现一键式快速测量，内部集成了校准件（省去了极其繁琐的手 动校准过程），TDR 上升沿时间为6ps，最大端口数为12 端口，带宽范围0-40GHZ ，非常小 巧轻便，可测量TDR 阻抗（可实现不同归一化的上升时间）、TDT 传输延时、单端和混合 模式S 参数（传输损耗、差分对内的近端/远端串扰、差分对间的近端/远端串扰）等。 具体测试方法是将USB3.0 的线缆两端分别连接到夹具上，然后通过夹具上的SMA 同 轴头和SPARQ 的SMA 线缆连接到SPARQ 测试仪上，实现S 参数（包含传输损耗、近端串 扰、远端串扰等参数）、TDR 阻抗、传输延时等参数的测量，如下图3 所示。 图3 USB3.0 线缆测试连接示意图 二、USB3.0 发射机物理层测试 1、发射机测试及规范要求介绍 发射机信号质量测试是所有低速、高速信号都会要求测试的项目。主要内容有信号的