γ射线在不同材料吸收剂量换算Monte+Carlo模拟.pdfVIP

中国核科学技术进展报告（第一卷） 计算物理分卷 Progress Report on China Nuclear Science Technology （Vol.1 ） 2009 年11 月 γ射线在不同材料吸收剂量换算的Monte carlo 模拟 1,2,3 1,2 1,2 1,2 1,2 何承发 ，郭 旗 ，陆 妩 ，任迪远 ，余学峰 ， 1,2 1,2 1,4 文 林 ，孙 静 ，赵 云 （1.中国科学院新疆理化技术研究所，乌鲁木齐 830011 ；2.新疆电子信息材料与器件重点实验室，乌鲁木齐 830011 ； 3. 中国原子能科学研究院，北京 102413 ；4. 中国科学院研究生院，北京 100049 ） 60 摘要：采用EGSnrc 蒙特卡罗计算程序计算了 Co 射线由水吸收剂量转换到硅吸收剂量的转换系数,该转换系数是半导体 器件辐射效应研究中经常用到的转换系数。应用EGSnrc 程序模拟了辐照源及硅和水模体，确定出60Co 射线在硅和水中 的电子平衡厚度。采用2 种方法计算出了水到硅的剂量转换系数，一种是能注量平均法，另一种是剂量比值法。结果表 明两种方法计算出的剂量转换系数与国家标准方法计算结果符合得很好。这种方法可以应用于原子序数相差较大的介质 间的剂量转换。 关键词：吸收剂量；60Co γ射线；蒙特卡罗 电离辐射与介质相互作用引起的物理、化学或生物学的变化，称为辐射效应。电离辐射作用于介 质产生的效应主要决定于该介质所吸收的辐射能量，吸收剂量就是表征电离辐射授与单位质量介质能量 的一个物理量，是研究辐射效应最重要的参量之一。由于辐射与介质相互作用依赖于介质的质量能量吸 收系数、阻止本领、电子密度等特性，同样辐射条件下不同介质吸收的辐射能量不一定相同，所以在论 及吸收剂量时，必须明确介质类型。如医学放射治疗实践中常用Gy(水) ，半导体器件辐射效应研究中 常用Gy(硅)来表示吸收剂量的单位。在实际应用中，吸收剂量的测量是在满足次级电子平衡等条件下， 应用空腔电离理论，构造一个剂量计系统来测量标准介质或材料中的吸收剂量，然后换算至同样辐照条 件下的其他感兴趣材料的吸收剂量。ASTM E666:2003 和中国国家标准GB/T 15447—2008 就是国际和 国内关于X 、γ射线和电子束辐照不同材料吸收剂量的换算方法专门发布的标准[1-2] 。但是这两个标准规 定的是两种原子序数相近的材料之间的换算方法，换算过程比较复杂，涉及到带电粒子平衡厚度，及该 厚度对射线能注量谱的衰减修正等，实际操作比较繁琐。目前在半导体器件辐射效应的研究中，60Co 辐射场一般采用硫酸亚铁剂量计或电离室等绝对剂量计测量剂量场，给出水吸收剂量Gy(水)或空气吸 收剂量Gy(空气) ，然后换算为硅吸收剂量Gy(硅) 。但关于换算方法的文献极少，研究人员采用的换算 方法、换算系数不尽一致，给辐射效应的比较带来误差。本文将采用蒙特卡罗方法，以水吸收剂量与硅 吸收剂量的转换为例，考察水吸收剂量与硅吸收剂量的转换系数。 1 方法 1.1 吸收剂量转换系数 在达到带电粒子平衡的条件下，同样辐照条件下两种材料中的吸收剂量可以用下列关系转换： (1) 8 其中的 为吸收剂量转换因子，与射线能谱、照射野大小、与辐照源距离及介质材料等因素 密切相关。所以，如果已知水中的吸收剂量 , 则根据(1)式，可以得出在同样辐照条件下，同样 位置处吸收介质为Si 时的吸收剂量 。 传统的剂量测量和转换计算过程中，由于无法得到射线在每个介质深度中的能注量数值，所以 应用针对初始射线能谱平均的质量能量吸收系数比或次级电子质量碰撞阻止本领比来换算两种材料 的吸收剂量[2] 。 在已知光子能量注量的情况下，材料中吸收剂量的计算公式为[3] ：