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第 20 卷 武 夷 科 学 V o l. 20
2004 年 12 月 WU Y I SC IEN CE JOU RNAL D ec. 2004
( )
文章编号:2004
衰减全反射——傅里叶变换红外光谱技术的
发展及应用
蔡碧琼, 蔡向阳, 张福娣
(福建农林大学生命科学学院, 福建 福州, 350002)
摘要: 本文介绍了衰减全反射——傅里叶变换红外光谱技术的发展概况、基本理论、技术特点、新型附件及
其应用。
关键词: 傅里叶变换红外光谱; 衰减全反射; OM N I 采样器
中图分类号: 657. 33 文献标识码:
O A
红外光谱是化合物结构定性分析的主要手段之一, 其常规分析方法很多, 有压片法、涂膜
(
法、漫反射法等。但对一些特殊样品, 如难溶、难熔、难粉碎等的试样 如合成树脂、橡胶、塑料、
) ( )
纤维、珍珠、翡翠、织物、胶囊等 就很难直接测得红外光谱。采用衰减全反射 A TR 分析就可
以方便地克服这些困难。该方法应用范围广泛、制样简单、无需前处理、不破坏样品就可以直接
进行红外分析, 所测得的红外光谱与透射光谱的谱带位置、形状完全一致, 不存在干涉条纹, 特
[ 1 ]
征谱带清晰 。
1 衰减全反射——傅里叶变换红外光谱 ( - ) 技术发展概况
A TR FT IR
20 世纪 60 年代初出现了衰减全反射红外附件, 但由于受色散型红外光谱仪性能限制,
A TR 技术应用研究领域不甚广泛。80 年代初将显微技术应用到傅里叶变换红外光谱仪, 诞生
了A TR - FT IR 仪, 它使微区成分的分析变得方便而快捷, 检测灵敏度可达数纳克(ng) , 测量
显微区直径达数微米。近年来, 随着计算机技术的发展, 实现了非均匀、表面凹凸、弯曲样品的
微区无损测定, 可以获得官能团和化合物在微分空间分布的红外光谱图像。
2 衰减全反射 (A TR ) 谱的基本理论
(
衰减全反射原理可以简单地概括为: 当入射角大于临界角时, 入射光在透入光疏介质 样
)
品 一定深度后, 会折回射入全反射晶体中。进入样品的光, 在样品有吸收的频率范围内光线会
被样品吸收而强度衰减, 在样品无吸收的频率范围内光线被全部反射。A TR 光谱就是置于晶
体上样品的红外光谱, 反映出来的是光线经过的那部分样品的化学键分子运动特征, 亦即表面
收稿日期: 2004- 04- 30
( )
作者简介: 蔡碧琼 1977- 女, 助理实验师, 大学本科, 研究方向: 红外光谱仪器分析技术的研究与应用
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第 20 卷
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