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应用计算机测定电阻的温度特性实验指导 实验原理 - 热敏器件的特性 半导体热敏电阻特性 在一定的温度范围内，对于负温度型的半导体热敏电阻的电阻率和温度T之间有如下关系： (1) 式中A1和B是材料物理性质有关的常数，T为绝对温度。 对于粗细均匀的热敏电阻材料， 由于 (2) RT的单位为Ω；单位为 ；为材料的长度，单位为m；S为横截面积，单位为m2。将式（1）代入式（2），并令，于是可得 （3）对一定的电阻而言，A和B均为常数。对式（3）两边取对数，则有 （4）可见lnRT与成线性关系。在实验上通过测出器件的电阻RT随温度T的变化特性来确定系数A值，可得到RT的特性表达式。 热电阻特性 大部分金属热电阻的特性在小温度范围内是线性的。如果温度范围进一步扩大时为非线性关系，（5）式给出铂电阻在0—600范围内的特性，即 （5）式中、称温度系数。 实验仪器 仪器清单 Pasco 500型接口、恒流源、计算机、半导体热敏电阻、金属铂电阻、加热装置及可替换的加热铜体、温度传感器、电缆（即电压传感器）、导线等。 仪器功能介绍 待测件：半导体热敏电阻、金属铂