基于嵌入式技术的太阳电池I..docVIP

基于嵌入式技术的太阳电池I—V性能测试仪 0引言 太阳电池I—V性能测试仪按照在太阳电池生产工艺流程中的不同应用可以分为单体测试仪、组件测试仪和光伏阵列测试仪，主要用于太阳电池电学性能的检测，根据测试结果可以控制工艺过程，提高电池质量。它是太阳能电池生产不可缺少 的重要设备。目前市场上传统光伏电池的伏安特性测试设备是采用电子负载和上位机组合的方式搭建，成本较高，设备笨重，操作不方便。鉴于此，采用嵌入式手持技术，设计出一款自带触摸屏的手持式I—V性能测试仪，选择合适的太阳模拟光源可以适用于太阳电池单体和组件的I—V性能测试。 1 系统硬件结构设计 太阳电池I—V测试仪硬件电路主要由前端取样电路、信号调理电路、偏置电路、微控制器(CPU)、存储器和LCD组成。系统总体结构如图I。取样电路取样四路信号，分别是电流信号、电压信号、光强信号、温度信号，经过调理电路放大处理后送入CPU中进行数据处理，处理结果存入存储器，并通过LCD显示器实时显示出来。USBhost用于测试结果数据的下载。系统微控制器(CPU)选用的是基于ARM920T体系构架的S3C2440，内存芯片选用了2片8位共128MB NandFlash非易失性存储器。温度传感器使用单总线温度传感器DSl8820。DSl8820直接输出9位字节温度信号，精确到±0．5℃，满足国家标准关于I—V测试仪温度精度的需要‘1|。光强传感器使