瓦里安新一代全谱直读等离子体发射光谱Vista MPX-ICP.pptVIP

Vista MPX ICP-MPX  瓦里安新一代全谱直读等离子体发射光谱 ICP-MPX能分析的元素 多道光谱仪 多道ICP 单道扫描ICP 优点: 速度快 灵活 效率高 易于建立方法 缺点: 死板 速度慢, 消耗成本高 扣背景不准确 精度较差 共同缺点: 背景和信号不能同时测定, 存在时间误差 扣背景速度慢 Echelle optics 光学原理 Echellogram Continuous spectrum 连续式光谱 全谱直读的检测器单元 ——固体检测器 目前在ICP-MPX中所使用的固体检测器都是光敏半导体检测器，有：CID和CCD CID （电荷注入型检测器）：量子化效率低，噪音比CCD高，多年来在硬件上无防溢出设计,因此存在严重的溢出问题 CCD（电荷耦合型检测器）：技术非常成熟，广泛用于数码技术上；已有多个厂家用于ICP-MPX的使用上；可靠的防溢出设计 因为是多个单元的光敏半导体材料，故都存在溢出问题：即当某个单元的光强度特别高时，产生的大量电荷来不及被读出，从而导致流到其它单元，使其它单元得到错误的结果。 瓦里安新一代全谱直读等离子体发射光谱 Vista MPX ICP-MPX Vista MPX 功能特点 第一个检测器象素突破百万的全谱直读ICP 是分析速度最快的ICP光谱仪,测定一个样品无论多少元素仅需50秒。 坚固可靠、直接耦合40MHz的高频发生器,即使是高盐或有机样品也能保证稳定炬焰，不易熄火、不易积盐 高分辨率、高光通量的光学系统 卓越的整体分析性能高灵敏度、低检出限，短期精度优于0.5%，长期精度 RSD 1% (20小时） 功能最强大、使用最方便的工作站软件－－ICP光谱分析的专家 片段式CCD （SCD） CID (Charge Injection Device) CCD 器件在光学仪器中的应用 孙 长 明 上海光学仪器研究所 〔摘要〕近年来CCD应用技术的发展尤为引人注目，CCD器件已显示了突出的功效，在光学仪器领域得到广泛的应用。本文介绍应用CCD器件开发光学仪器所取得的进展。 CCD的特点： 一、灵敏度高，噪声低，灵敏度超过光电倍增管 二、光谱范围宽 三、动态响应范围宽，达10个数量级 四、几何性能很稳定，耐过度曝光，比PMT结实耐用 五、可以多道采样，得到波长－强度－时间的三维谱图 六、在近几年内，CCD会成为各种光谱仪器的检测器，从而取代光电倍增管。 「光学仪器 」，1993年第一期 Comparison Between the Minimum Detectable Signals of PDA, ISPDA, CID, PMT, and CCD Minimum detectable signal(S/N=2), photon/S/detector element aquisition CID PMT CCD _ time(s) UV VIS UV VIS UV VIS 10 41 32 6.3 26 3.1 1.7 100 4.2 3.3 1.8 7.3 0.3 0.2 Table 3.11B Parameters Used in Caculating the Minimum Detactable Signal Parameter CID PMT CCD QE at 600nm 37% 5% 84% QE at 300nm 19% 21% 50% Dark count rate 0.008