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專利屆滿日計算與分析系統及方法 發明人:李忠一 LEE, CHUNG-I  葉建發 YEH, CHIEN-FA  黃通 HUANG, TONG 申請人:鴻海精密工業股份有限公司 公開日 2005/06/16 申請日 2003/12/02 報告者:侯思帆 碩研一甲 摘要 一種專利屆滿日計算與分析系統及方法，其藉由存儲在資料庫中之專利屆滿日計算方法及專利資料對專案內之專利屆滿日進行計算與分析，並將分析結果以圖表方式展示出來。 步驟 (1)存儲專利屆滿日計算方法於資料庫中 (2)產生一包括複數專利的專案 (3)讀取專案中一專利資料 (4)計算該專利的屆滿日 (5)判斷該專案中是否還有其他專利資料 (6)若該專案中已不存在其他專利資料， 對所有專利屆滿日進行分析，得出屆滿日分佈情況 (7)將屆滿日分佈情況傳送至客戶機 (8)將屆滿日分佈情況以圖表形式顯示出來。 圖片說明 ThQeNbJ8G5D1A-w*t$qYnVkSgPdLaI7F3C0z)vs#pXmUiRfOcK9H5E2B+x(u%rZoWkThQeMbJ8G4D1z-w*t!qYnVjSgPdLaI6F3C0y)vs#pXlUiRfNcK9H5E2A+x(u$rZoWkThPeMbJ7G4D1z-wt!qYmVjSgOdL9I6F3B0y)v%s#oXlUiQfNcK8H5E2A