用单光子计数法测量束团纵向精细结构.pdfVIP

710一15 998 第二届全!NiJn速器技术学术交流会论文集 用单光子计数法测量束团纵向精细结构 孙葆根，何多慧 中国科学技术大学国家同步辐射实验室．台肥230029 摘要：本文介绍了用单光于计数法测量束团纵向精细结蜘的原理．介绍了舍肥同步辐射光 源测量束团纵向精细结构的单光子计数系统的设计．由于?～i：十敬洼具有高时间分辨牢(2ps) 和大的动态测量范围(105)等优点，所以该系统不仅可．，i，量束团长度、而且可以精密测量单 束目的纯净度．最后．讨论了该系统在束团仲长效应的矸冕．尾场和纵向阻抗的研冤以及影 响单柬圆不纯净机理的研究中的应用。 关键词：单光于计数法，柬盈纵向结构，单束团纯净度 1．引言 在电子储存环中束流纵向结构和尺寸以及单柬团的纯净度是非常重要的参数，它直接关系到光源的 性能和稳定。国际上许多实验室为了提高光源品质和稳定性都很重视束流纵向结构的研究。测量束流纵 向结构有多种方法，如条纹相机法，频谱法、示波器法以及堕光子计数法。其中条纹相机法具有精度高 f2ps)、可在线实时测量等优点：频谱洼具有可长期在线实时测量束团长度的优点…，但不能测量柬团纵 向结构分布；示波器法具有简单直观，可测量束团长度和纵向结构等优点【21。但是，由于上述三种方法 动态测量范围小，所以它们均不能测量束团纵向精细结构，旦不能测量单柬团的纯净度。而单光子计数 法具有高分辨率(2ps)，大的动态测量范围(10，)等优点，所以它在测量束团纵向精细结构和单柬团的纯挣 度方面具有独到之处。 日本KEK的光子工厂经过十年自j研究，现已成功地利用单光子计数法研究储存环束团纵向结掏、 单束团的纯净度和柬流不稳定性，在毙高光源品质和稳定性方面作了大量工作，并取得可喜成果【“。最 近，他们用单光子计数法进行了主束团的尾场对测试束团的束团伸长效应的研究，并由此分析纵向阻抗 特性【‘l。此外，他们还采用了具有快速光开关的单光二}计数系统进行多束团情况F柬盈纵向结构的研究 I“，该研究将把单光子计数法应用于多柬团情况下柬团纵向纪构的测量，舅将把对单束宦的纯净度的测 量提高到10“以上范围。 囚此，研制一套测量储存环柬团纵向结构的装置，分析影响束流纵向尺寸和束流不稳定性以及单柬 团的纯净度的机理，并提出相应的措施，这将对提高同步辐射光源品质，为用户提供高品质高稳定的光 源具有十分重要的意义。 2．工作原理 当我们在某一点观察同步光时，它的强度的时间分布线性地反应柬团纵向分布。因此，我们可以通 过测量同步光的强度随时间的变化来测量束团纵向分布。因为可见光容易从光束线引出，且安全，所以 我们应用同步光中可见光部分进行测量。 单光子计数法是基于将同步光的光通量衰减至在多个圄旋周期仅有～个光子被光子检测器(微通道 型光电倍增管)的检测水平。这样。从统计的角度光子到达检测器时间的概率分布与同步光的强度分布 一致。因此，我们只要将光子到达检测器的时间与一个跟束团回旋周期同步的定时信号的时间差进行数 字化采集，并通过积累大量的事仲就可以重构出束团纵向分布，从而得到大的动态范围。系统的时间分 辨率和精度可以通过系统的电子学系统设计保证，系统的时间分辨率可达2ps左右。 3．系统设计 单光子计数系统由一个光路系统和一个电子学系统组成。 3．1光路设计 光路系统将同步光中可见光取出，并将其光通量衰减至在多个回旋周期仅有一个光子被微通道型光 电倍增管的检测水平，再送至微通道型光电倍增管(MCP-PMT)进行检测，保证单光子计数的要求。光路 系统还将滤除杂散光，提商测量精度。根据合肥光源(HLS)的情况，我们采用单光于计数系统与束流 1998 7．10-15 第二届全国加速器技术学术交流会论文集 截面检测器公用同一条光路。单光子计数系统的光路系统框图如图1所示。 躅1 单光子计数系统的光路系统框图 3．1．1透镜和可变光阑 我们利用透镜把二极铁发光点的同步光聚焦到可变光阕的针iL上，这样可将杂散光剔除掉。我们选 用焦距为170ram的透镜和型号为￡，55的可变光阑。 3．I．2 ND滤光片和水平狭缝 衰减至在单柬团情况下每二百回旋周期一个光子检测量的水平，以保证计数率为20KHz左右(这主要由 PMT的工作电流限制)