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数字电子技术实验 指导教师：孔洁 实验一 基本门电路逻辑功能测试 1、熟悉基本门电路的逻辑功能及测试方法 2、掌握用SSI设计组合逻辑电路的方法 3、用实验验证所涉及电路的逻辑功能 实验一 基本门电路逻辑功能测试 74系列门电路芯片外形如图1-1所示，管脚编号方法：管脚向下半月形缺口向左，从下排自左向右顺序编号，上排自右向左顺序编号。 实验原理 实验内容及步骤 实验内容及步骤 实验内容及步骤 实验内容及步骤 实验内容及步骤 用74LS00与非门电路组成的半加器电路如图3-1所示。 * * 实验一 基本门电路逻辑功能测试 实验二 中规模组合逻辑电路应用（一） 实验三 中规模组合逻辑电路应用（二） 实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的设计 实验五 触发器设计及应用 实验六 计数器的设计及应用 实验七 555定时器的应用 实验八 实验考试 实 验 内 容 数字电子技术实验 一、实验目的 二、实验仪器及器材 1、数字逻辑实验台 2、集成块74LS00、74LS32、74LS86各一片 3、导线若干 图1-1 74系列芯片的管脚编号方法图 1. 74系列芯片的管脚读法 三、实验原理 按集成度分：小规模（SSI）：每片1—10个器件， 中规模（MSI）：每片10—100个器件 大规模（LSI）：每片数千个器件 超大规模（VLSI）：每片10000器件 按电路结构和工作原理分： 组合逻辑电路：无记忆，输出与以前状态无关 时序逻辑电路：有记忆，输出与以前状态有关 实验原理 2.逻辑电路的分类： 3. 组合逻辑电路的设计 组合电路：输出仅由输入决定，与电路当前状态无关；电路结构中无反馈环路（无记忆） 组合电路的描述方法主要有逻辑表达式、真值表、卡诺图和逻辑图等。 输入到输出之间没有反馈回路。电路不含记忆单元。 组合电 路特点: 实验原理 1.分析 2.真值表 3.化简 4.逻辑图 设计要求：在满足逻辑功能和技术要求的基础上，力求使电路简单、经济、可靠。设计中所说的“最简”是指电路所用的器件数最少，器件的种类最少，而器件之间的连线也最少。 实验原理 组合逻辑电路的设计 逻辑变量：取值仅有逻辑“0”和逻辑“1” 逻辑代数：按一定逻辑关系进行代数运算（与、或、非、与非、异或……) 实验原理 4. 逻辑变量和逻辑代数的含义 74LS00 实验原理 四、实验内容及步骤 1.二输入与非门74LS00的逻辑功能测试(结果填入表1.1) 实验一 基本门电路逻辑功能测试 2.二输入或门74LS32的逻辑功能测试(结果填入表1.1) 3.二输入异或门74LS86的逻辑功能测试(结果填入表1.1) 表1.1 门电路逻辑功能表 异 或 解：①逻辑抽象 输入变量： 主裁判为A，副裁判为B、C。 判明成功为1，失败为0； 输出变量： 举重成功与否用变量Y表示，成功为1，失败为0； 逻辑真值表 4.用与非门设计一个举重裁判表决电路。设举重比赛有3个裁判，一个主裁判和两个副裁判。只有当两个或两个以上裁判判明成功，并且其中有一个为主裁判时，表明举重成功。 ②卡诺图化简 A BC 0 1 00 01 11 10 Y 1 1 1 ③逻辑电路图 实验内容及步骤 5.测试由门电路组成的半加器的逻辑功能 能实现两个一位二进制数的算术加法及向高位进位，而不考虑低位进位的逻辑电路 1.由逻辑图写出逻辑表达式。 2.列出真值表，并化简。 3.按图3-1连接电路，验证逻辑关系。将实验结果填如表3-1中。 * *