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精选AVR应用笔记 AVR040: EMC 设计 翻译：邵子扬 2006年6月25日 shaoziyang@ 修订：黄保明 2006年6月28日 范围 这篇应用笔记覆盖了单片机设计中大部分常见的 EMC 问题，它简要的讨论了各种现象。对于要设计出需要通过电磁兼容的产品，高度推荐进一步学习涉及到的参考文献，它们更加详细。一个好的 EMC 设计需要很多知识，难以全部放在一篇简短的应用笔记中。 不像许多其它设计问题，EMC 不能列出一系列的规则。EMC 兼容不能由设计保证，它必须通过测试。 推荐没有 EMC 设计经验的读者反复阅读这篇应用笔记，这样更容易理解前面的一些主题，如果读者已经阅读了笔记的其余部分。 介绍 在数年前，电磁兼容是大多数工程师不必担心的问题。而今天每个将产品推向全球市场的设计者都必须考虑它。这主要有两个原因： 电磁环境变得更加复杂。 高频无线信号的发送，移动电话到处可以看到，越来越多的系统使用了开关电源，电子产品每年都在增长。 电子电路越来越敏感。 电源电压在降低，减少了噪声容限；电路尺寸越来越小，降低了改变逻辑电平需要的能量；同时减少了改变逻辑信号需要的噪声总量。 从设计者来角度看，EMC 需要从两个不同的方式来看： 环境可能会怎样影响设计（抗干扰）。 设计可能会怎样影响环境（干扰）。 传统上，只有发射端设备有政府规定：一个电子设备不允许发射某些特殊频率以避免干扰无线通信或其它电子设备。大多数国家对此都有规定。 另外就是特殊应用对噪声有要求，如医学设备、航空设备和军事设备。 从 1995 年起，欧洲对所有电子产品引入 EMC 兼容规定，其目的是： 保证产品的发射或辐射不会干扰到其它设备的功能。 保证所有产品在现有环境中不被干扰。 同时强制执行 EMC 要求：在欧洲每个制造或要进入欧洲的产品在投放市场前，必须提供相关证明。世界其它国家也预备引入类似规定。 不同类型产品的辐射和抗干扰门限和环境在各种国际标准中给出。更详细的说明可以在相关文献中找到。 EMC 指标是针对最终产品的，而不是某个元件的。作为一个元件只有放在系统中才能工作，至于内部问题怎样解决是设计者的事情。 因此，测试满足CE市场需要的产品也适合于测试最终的产品。但是它不能用于直接测试元件，如单片机。同样也适用于 FCC 认证的产品测试。EMC 的元件测试数据在测试过程中受测试板上安装的元件的影响。这些结果应当只作为参考。 另一方面，有的测试标准（军事、汽车和其它）直接测试元件。这些标准指定使用标准测试板，这样可以保证比较不同厂家元件的测试结果。这些测试不需要按照 EMC 方式。 EMC 现象和 EMC 测试 不像其它许多设计问题（例如电源计算），EMC 设计没有严格的准则，如“象这样做，它就可以工作”。只有很多设计建议，如“象这样做，它可能工作”或“这样更可能工作，但是成本高一些”。 对于大多数应用，不经过真正的实验室测试不能证明其 EMC 合格。一些新的 CAD 软件包括了 EMC 仿真，这对于设计是一个好的帮助，节省了在实验室做额外的测试，但是它并不能代替最终的测试。 这一节给出单片机系统设计中大多数常见的 EMC 现象的简要介绍。为了容易理解不同的现象，同时说明了用于仿真的现象和测试 ESD (干扰测试) ESD (静电放电) 是大多数人遇到过的，比如当你接触到厨房的水槽或其它接地的物体时。这是因为你的身体充满了静电电荷（在人造纤维地毯上行走就很容易这样），当你接触一个不同的电荷或接地的物体时，电荷就释放出来。如果一个人感受到放电现象，电压通常有 4 kV 或更高，很容易就可以达到 10 kV。 图1. ESD 测试发生器 一个简化的模型是使用一个电容保存电荷，通过一个电阻放电，和人体静电情况类似。 图1 显示了这个装置的示意图。CS 是储能电容等效于人体的电容，RD 是放电电阻等效于人体的电阻，VS 是高压电源，RC 是电源的串联电阻。当开关 S 连接到 RC，电容开始充电；当开关 S 连接到 RD，电容通过电阻 RD 放电，并对连接到或靠近放电端的设备进行测试。RC 的参数对于储能电容的能量来说没有实际意义。 完整的电路通常按照 MIL-STD-883 标准进行测试。 在这里 RC 是 1 - 10 M(, RD 是 1.5 K(，CS 100 pF。这就是所谓的人体模型，模拟在手工操作电路板时集成电路可能遇到的 ESD。传统 CMOS 的芯片测试电压 VS 大约是 ±2 kV，新的芯片如 AVR 单片机通常是 ±4 kV 或更高。 另外一个模型，机器模型模拟自动处理时可能遇到的 ESD。那么此时 CS 大一倍，200 pF。限流电阻 RD 是 0 (!)，但是要串入一个 500nH 的电感，RC 是 100 M(。在电流电压就 500V