TTL门电路逻辑功能的测试及功能的转换.docVIP

TTL门电路逻辑功能的测试及功能的转换 内容： 1.测试74LS00的逻辑功能 2.测试74LS08的逻辑功能； 3.测试74LS86的逻辑功能； 4.测试74LS02的逻辑功能。 一.试验目的 ⑴了解集成元器件引脚的排列特点 ⑵掌握TTL与门主要参数的测试方法 ⑶掌握TTL与门电压传输特性的测试方法 二.试验内容 ㈠74LS00四2输入与非门 AB 1Y 2Y 3Y 4Y 00 1 1 1 1 01 1 1 1 1 10 1 1 1 1 11 0 0 0 0 由测试结果可得结论：有0出1，全1出0。 ㈡74LS08四2输入与门 AB 1Y 2Y 3Y 4Y 00 0 0 0 0 01 0 0 0 0 10 0 0 0 0 11 1 1 1 1 由测试结果可得结论：有0出0，全1出1。 ㈢74LS86四2输入异或门 AB Y Y Y Y 00 0 0 0 0 01 1 1 1 1 10 1 1 1 1 11 0 0 0 0 由测试结果可得结论：相同出0，相异出1。 ㈣74LS02四2输入或非门 AB 1Y 2Y 3Y 4Y 00 1 1 1 1 01 0 0 0 0 10 0 0 0 0 11 0 0 0 0 A由测试结果可得结论：全0出1。 ㈤扩充试验：设计Y=A+B电路并