利用薄膜量热计测量高功率Z箍缩软X射线总能量.pdfVIP

　第 15 卷 　第 2 期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol. 15 ,No. 2 　 　2003 年 2 月 HIGH POWER LASER AND PARTICL E BEAMS Feb. ,2003 　 文章编号 : (2003) 利用薄膜量热计测量高功率 Z 箍缩软 X 射线总能量 1 ,2 1 2 2 2 王文生 , 　何多慧 , 　邱爱慈 , 　蒯 　斌 , 　罗建辉 ( 1. 中国科学技术大学 国家同步辐射实验室, 安徽 合肥 230026 ; 　2 . 西北核技术研究所, 陕西 西安 710024 ) 　　摘 　要 : 　介绍一种采用脉冲恒压电源驱动的镍薄膜量热计 ,研制了测量系统和镍薄膜探测器 ,对探测器 的电阻温度特性进行了实验标定 ,该量热计已成功应用于测量“强光一号”加速器高功率 Z 箍缩等离子体软 X 射线总能量 ,分析了测量不确定度。 　　关键词 : 　等离子体 ; 　Z 箍缩 ; 　软 X 射线诊断 ; 　量热计 　　中图分类号 : 　O536 ; 　O434. 12 　　　　文献标识码 : 　A 　　最近几年 ,美国 Sandia 实验室在高功率 Z 箍缩等离子体研究中取得的重大进展引起了广泛关注 ,利用其 ( ) [1～3 ] 产生的强脉冲辐射有可能成为惯性约束聚变 ICF 研究的重要途径之一 。我们利用西北核技术研究所的 “强光一号”加速器,开展了喷气式高功率 Z 箍缩等离子体辐射及诊断技术的研究。该装置的主要电气参数 μ 为 :二极管电压 1. 0～1. 2MV ,管电流 1. 2～1. 5MA ,喷氪气线质量 15～25 g/ cm ,产生的 X 射线能量大部分在 1keV 以下。测量高功率 Z 箍缩等离子体辐射软 X 射线总能量 ,对研究等离子体聚爆过程及理论模拟是非常 重要的 ,也为“强光一号”加速器的电流与负载的匹配设计提供重要依据。为此 ,我们研制了一种能谱响应平的 软 X 射线总能量测量系统 镍薄膜量热计 ,并成功应用于“强光一号”加速器高功率 Z 箍缩等离子体辐射的 总能量测量。该系统对等离子体总的软 X 射线辐射能量测量的标准不确定度约为 18. 6 % 。 1 　薄膜量热计测量原理 　　选用纯镍材料研制了一种薄膜探测器 ,利用镍薄膜材料电阻率随温度变化的特性来测量沉积的 X 射线能 量。在软 X 射线能量段 ,X 射线与物质的相互作用主要是光电效应 ,照射到薄膜上的 X 射线通过光电效应转 换成热效应 ,使薄膜的温度升高 , 电阻率增大,引起电阻增加。这样通过测量薄膜的电阻变化就可以确定沉积 的软 X 射线总能量 ,表达式为 Δ Δ ( ) ( ) E = R/ d R/ d E 1 Δ Δ 式中 : E 为入射后沉积在薄膜上的 X 射线能量 ; R 为薄膜的电阻变化 ;d E/ d R 为产