纳米碳化硅半导体).docVIP

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  • 2015-08-11 发布于河南
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开尔纳米产品应用论文(周报) 论文名称 碳化硅半导体 一、本期推介粉体:碳化硅 主要技术指标(与本论文相关联的指标): 本期重点推介的性能(关键词、句): 碳化硅(SiC),作为一种新型半导体材料,具有潜在的优点:更小的体积、更有效率、完全去除开关损耗、低漏极电流、比标准半导体(纯硅半导体)更高的开关频率以及在标准的125℃结温以上工作的能力。小型化和高工作耐温使得这些器件的使用更加自如,甚至可以将这些器件直接置于电机的外壳内。 在性能上的增长,纯硅功率晶体管有着令人羡慕的成绩,然而,对于高要求的功率开关和控制的应用上,它似乎已经到达了它的极限。    碳化硅(SiC),作为一种新型半导体材料,具有潜在的优点:更小的体积、更有效率、完全去除开关损耗、低漏极电流、比标准半导体(纯硅半导体)更高的开关频率以及在标准的125℃结温以上工作的能力。小型化和高工作耐温使得这些器件的使用更加自如,甚至可以将这些器件直接置于电机的外壳内。    任何一种新技术都会经历由发展到成熟的过程,SiC也不例外。标准功率开关,如绝缘栅双极型晶体管(IGBT),有很大的产品基础和优化的生产技术。而SiC却需要投入大量经费和研发资金来解决材料问题和完善半导体制造技术。然而这种功率开关器件,能够在正向导通大电流和反向截止千伏电压之间快速执行开关动作,这样的性能是值得一试的。   

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