半导体参考试题.docVIP

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  • 2015-08-11 发布于重庆
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半导体参考试题.doc

1.试画图定性分析纯半导体材料和杂质半导体中电阻率ρ随温度T的变化关系。 解答:对于纯半导体材料。电阻率主要由本征载流子浓度ni决定。ni随温度上升而急剧增加,室温附近温度每升高8℃,硅的ni就增加一倍,因为迁移率只稍有下降,所以电阻率就降低一半左右;对锗来说,温度每增加12℃,ni增加一倍,电阻率降低一半。本征半导体电阻率随温度增加而单调地下降。这是半导体区别于金属的一个重要特征。对于杂质半导体,有杂质电离和本征激发两个因素存在,又有电离杂质散射和晶格散射两种散射机构的存在,因而电阻随温度的变化关系要复杂些,如图所示表示一定杂质浓度的硅样品的电阻率和温度的关系,曲线大致分为三段。AB段:温度很低,本征激发可以忽略,载流子主要由杂质电离提供,它随温度的升高而增加;散射主要由电离杂质决定,迁移率随温度升高而增大,所以电阻率随温度升高而下降BC段:温度继续升高(包括室温),杂质已全部电离,本征激发还不十分显著,载流子基本上不随温度变化,晶格振动散射上升为主要矛盾,迁移率随温度升高而降低,所以电阻率随温度升高而增大。C段:温度继续升高,本征激发很快增加,大量本征载流子的产生远远超过迁移率的减小对电阻率的影响,这时本征激发成为矛盾的主要方面,杂质半导体的电阻率将随温度的升高而急剧地下降,表现出同本征半导体相似的特征。设晶格常数为a的一维晶格,导带极小值附近能量Ec(k)和价带极大值附近能量

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