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材料分析原理与技术 一．单选 1.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ ） Cu Fe Ni Mo 2.XRD属于（ ） 光谱 能谱 衍射花样 3.一般来说什么样的样品适合于粉末衍射（ ） 具有高度织构的样品 无规则排列的多晶粉末 单晶块材 4.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ ） 背散射电子 俄歇电子 特征X射线 5.中心暗场像的成像操作方法是（ ） 以物镜光栏套住透射斑 以物镜光栏套住衍射斑 将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑 6.衍射仪法中的试样形状是（ ） 丝状粉末多晶 块状粉末多晶 块状单晶 任意形状 7.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ） 4 8 6 12 8.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ） 是否满足布拉格条件 是否衍射强度I≠0 A+B 晶体形状 9.衍射现象的产生是因为样品中有什么（ ） 周期性排列的原子结构 吸收限近似于入射光子能量的元素 短程有序的无定形相 10.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ ） 哈氏无机数值索引 芬克无机数值索引 戴维无机字母索引 11.XRD检测样品的什么信息（ ） 样品中的元素 检测样品中的官能团 检测样品中的物相 12.透射电子显微镜中可以消除的像差是（ ） 球差 像散 色差 13.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（ ） 短波限λ0 激发限λk 吸收限 特征X射线 14.下列哪种材料不是常见的XRD的光管靶材（ ） Cu Cr Al 15.衍射峰位一般不取决于（ ） 入射X射线波长 样品晶格尺寸 样品的粒径 16.一般粉末衍射实验的物相检出限是（ ） 1%级 1‰级 ppm级 17.下列哪种效应是XRD信号检测中尽量要避免的（ ） 样品的织构 样品的荧光 样品对X射线的吸收 18.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ ） 第二聚光镜光阑 物镜光阑 选区光阑 19.非晶、准晶和晶体在XRD中最重要的区别是什么的不同（ ） 峰位 峰宽 峰强 20.一般粉末衍射实验需要的样品量是（ ）。 克级 微克级 毫克级 21.PDF 卡片发布机构ICDD的前身是（ ） JCPDS FIZ-ICSD IUCR 22.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ ） Kα Kβ Kγ Lα 23.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（ ） X射线透射学 X射线衍射学 X射线光谱学 其它 24.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ ）。 高阶劳厄斑点 超结构斑点 二次衍射斑点 X射线衍射方法中最常用的方法是（ ） 劳厄法 粉末多晶法 周转晶体法 填空题 1、X射线的本质是（电磁波） ，其波长为（0.01~10nm）。它既具有（波动性），又具有（粒子性），X射线衍射分析是利用了它的（波动性） 。X射线的核心部件是 （X射线发射器） 。 2、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的 （衍射），另一方面又具有粒子性，体现为具有一定的（质量和能量）。 3.X射线与物质的相互作用有（散射、透射、吸收） 4.X射线衍射仪在进行衍射实验时，常见的扫描方式有（连续扫描）和（步进扫描）。扫描速度的选择对衍射图谱有一定影响，扫描速度过快，会导致衍射峰（强度和分辨率下降），且峰值（向扫描）方向移动。 5.入射X射线可使样品产生（相干散射）和（非相干散射）。其中（相干散射）是X射线衍射分析方法的技术基础。 6.扫描电子显微镜常用的信号是（二次电子）和（背散射电子）。 7.当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差为（nλ），相邻两个（HKL）反射线的波程差为（λ）。 8.X射线管滤波片的选择原则为（λkα光源λ滤波片λkβ光源） ，靶材的选择原则为（λkα光源λk样品）。 9.在利用X射线衍射仪进行衍射实验时，时间常数的选择对实验的影响较大，时间常数的增大导致衍射线的（背底变的平滑，但将降低分辨率和强度，衍射峰也将向扫描方向偏移）。这些变化给测量结果带来不利的影响。因此，为了提离测量的精确度，一般希望选用尽可能小的时间常数。 10.透射电镜的物镜光栏装在物镜背焦面，直径20—120um，由无磁金属制成。其作用是：（减小球差、像散和色差；提高图像的衬度；方便进行暗场及衍衬成像操作） 11.透射电镜的主要